Die Erfindung ermöglicht die dreidimensionale Erfassung einer Leuchtquelle und eignet sich ebenso zur Vermessung von Oberflächen. Aufgrund des technischen Prinzips, das mit reflektierter und absorbierter Strahlung arbeitet, werden Umgebungseinflüsse kompensiert
Weitere Informationen: PDF
Bayerische Patentallianz GmbH
Tel.: +49 89 5480177-0
Ansprechpartner
Peer Biskup
