Forum für Wissenschaft, Industrie und Wirtschaft

Hauptsponsoren:     3M 
Datenbankrecherche:

 

Argusaugen für makellose Papierflut

21.12.2001


Die weltweit schnellste Maschine produziert bei 100 Kilometern pro Stunde eine Papierbahn von rund zehn Metern Breite - nach weniger als zwanzig Sekunden wäre die Fläche eines Fußballplatzes bedeckt. Unmöglich, eine solche Papierflut per Augenschein auf Fehler zu untersuchen, und tatsächlich wird die Geschwindigkeit der traditionellen Qualitätskontrolle mit geschultem Personal oft zum Nadelöhr der gesamten Produktion. Erheblich flotter erledigen dies automatisierte Bildauswertungssysteme, die den Produktionsprozess zudem rückwirkend und unmittelbar beeinflussen können. Ein solches System ist SPOT des Fraunhofer-Instituts für Techno- und Wirtschaftsmathematik ITWM. Immerhin zweieinhalb Meter Papier kontrolliert es pro Sekunde bei einer Bahnbreite von einem Meter je eingesetzter Kamera. Dabei erkennt es Glanzstellen, Kratzer, Punkt- und Schlagfehler im Papier, die kleiner als ein Millimeter sind. Ein weiterer Vorteil: SPOT verwendet Standard-PCs und lässt sich je nach Anforderung modular erweitern.



»Die verwendeten Hardwarekomponenten sind nur ein Aspekt des Systems«, weiß der Informatiker Markus Rauhut. »Die erreichbare Geschwindigkeit und Genauigkeit der Kontrolle hängen vor allem von den Algorithmen der Bildverarbeitung ab.« Zunächst müssen sie die Ränder des Papiers identifizieren, um sie nicht für Fehler zu halten. Wichtig ist dann, dass wesentliche Bildinhalte erkannt und von unwesentlichen getrennt werden, denn Papierflut erzeugt Datenflut. Verschiedene elektronische Filter extrahieren typische Fehler, die als »regions of interest« in einem neuen Bild dargestellt werden. Was ein Fehler ist und wie groß er sein darf, wird zuvor definiert. Das datenreduzierte Bild lässt sich sofort betrachten oder wird für ein Fehlerprotokoll statistisch ausgewertet. Einzelne Papierbögen können schließlich je nach Güte automatisch ausgesondert und abgelegt werden.



Was mit gleichmäßig gefärbtem Papier gut funktioniert, bereitet bei gemusterten Oberflächen wie Holz oder Textilien ungleich höheren Rechenaufwand. »Sollen Fehler in Mustern bei hohen Geschwindigkeiten optisch analysiert werden, ist es unabdingbar, die bestehenden und an sich optimalen Algorithmen weiter zu vereinfachen«, nennt Rauhut die Herausforderungen. »Unsere Systeme TASQ und FOQUS eignen sich zur Qualitätskontrolle in diesen Branchen - sie müssen jedoch eingelernt werden. Alle drei übertreffen in Geschwindigkeit und Genauigkeit das menschliche Auge allemal.«

Dipl.-Inform. Markus Rauhut | Fraunhofer Gesellschaft

Weitere Berichte zu: Genauigkeit Papierflut Qualitätskontrolle SPOT

Weitere Nachrichten aus der Kategorie Informationstechnologie:

nachricht Smart Living: VDE-Institut entwickelt Cloud-basierte interoperable Testplattform
15.02.2017 | VDE Verband der Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik e.V.

nachricht Saarbrücker Informatiker machen „Augmented Reality“ fotorealistisch
15.02.2017 | Universität des Saarlandes

Alle Nachrichten aus der Kategorie: Informationstechnologie >>>

Die aktuellsten Pressemeldungen zum Suchbegriff Innovation >>>

Die letzten 5 Focus-News des innovations-reports im Überblick:

Im Focus: „Vernetzte Autonome Systeme“ von acatech und DFKI auf der CeBIT

Auf der IT-Messe CeBIT vom 20. bis 24. März präsentieren acatech – Deutsche Akademie der Technikwissenschaften und das Deutsche Forschungszentrum für Künstliche Intelligenz (DFKI) in Kooperation mit der Deutschen Messe AG vernetzte Autonome Systeme. In Halle 12 am Stand B 63 erwarten die Besucherinnen und Besucher unter anderem Roboter, die Hand in Hand mit Menschen zusammenarbeiten oder die selbstständig gefährliche Umgebungen erkunden.

Auf der IT-Messe CeBIT vom 20. bis 24. März präsentieren acatech – Deutsche Akademie der Technikwissenschaften und das Deutsche Forschungszentrum für...

Im Focus: Kühler Zwerg und die sieben Planeten

Erdgroße Planeten mit gemäßigtem Klima in System mit ungewöhnlich vielen Planeten entdeckt

In einer Entfernung von nur 40 Lichtjahren haben Astronomen ein System aus sieben erdgroßen Planeten entdeckt. Alle Planeten wurden unter Verwendung von boden-...

Im Focus: Mehr Sicherheit für Flugzeuge

Zwei Entwicklungen am Lehrgebiet Rechnerarchitektur der FernUniversität in Hagen können das Fliegen sicherer machen: ein Flugassistenzsystem, das bei einem totalen Triebwerksausfall zum Einsatz kommt, um den Piloten ein sicheres Gleiten zu einem Notlandeplatz zu ermöglichen, und ein Assistenzsystem für Segelflieger, das ihnen das Erreichen größerer Höhen erleichtert. Präsentiert werden sie von Prof. Dr.-Ing. Wolfram Schiffmann auf der Internationalen Fachmesse für Allgemeine Luftfahrt AERO vom 5. bis 8. April in Friedrichshafen.

Zwei Entwicklungen am Lehrgebiet Rechnerarchitektur der FernUniversität in Hagen können das Fliegen sicherer machen: ein Flugassistenzsystem, das bei einem...

Im Focus: HIGH-TOOL unterstützt Verkehrsplanung in Europa

Forschung am Karlsruher Institut für Technologie (KIT) unterstützt die Europäische Kommission bei der Verkehrsplanung: Anhand des neuen Modells HIGH-TOOL lässt sich bewerten, wie verkehrspolitische Maßnahmen langfristig auf Wirtschaft, Gesellschaft und Umwelt wirken. HIGH-TOOL ist ein frei zugängliches Modell mit Modulen für Demografie, Wirtschaft und Ressourcen, Fahrzeugbestand, Nachfrage im Personen- und Güterverkehr sowie Umwelt und Sicherheit. An dem nun erfolgreich abgeschlossenen EU-Projekt unter der Koordination des KIT waren acht Partner aus fünf Ländern beteiligt.

Forschung am Karlsruher Institut für Technologie (KIT) unterstützt die Europäische Kommission bei der Verkehrsplanung: Anhand des neuen Modells HIGH-TOOL lässt...

Im Focus: Zinn in der Photodiode: nächster Schritt zur optischen On-Chip-Datenübertragung

Schon lange suchen Wissenschaftler nach einer geeigneten Lösung, um optische Komponenten auf einem Computerchip zu integrieren. Doch Silizium und Germanium allein – die stoffliche Basis der Chip-Produktion – sind als Lichtquelle kaum geeignet. Jülicher Physiker haben nun gemeinsam mit internationalen Partnern eine Diode vorgestellt, die neben Silizium und Germanium zusätzlich Zinn enthält, um die optischen Eigenschaften zu verbessern. Das Besondere daran: Da alle Elemente der vierten Hauptgruppe angehören, sind sie mit der bestehenden Silizium-Technologie voll kompatibel.

Schon lange suchen Wissenschaftler nach einer geeigneten Lösung, um optische Komponenten auf einem Computerchip zu integrieren. Doch Silizium und Germanium...

Alle Focus-News des Innovations-reports >>>

Anzeige

Anzeige

IHR
JOB & KARRIERE
SERVICE
im innovations-report
in Kooperation mit academics
Veranstaltungen

Aufbruch: Forschungsmethoden in einer personalisierten Medizin

24.02.2017 | Veranstaltungen

Österreich erzeugt erstmals Erdgas aus Sonnen- und Windenergie

24.02.2017 | Veranstaltungen

Big Data Centrum Ostbayern-Südböhmen startet Veranstaltungsreihe

23.02.2017 | Veranstaltungen

 
VideoLinks
B2B-VideoLinks
Weitere VideoLinks >>>
Aktuelle Beiträge

Fraunhofer HHI auf dem Mobile World Congress mit VR- und 5G-Technologien

24.02.2017 | Messenachrichten

MWC 2017: 5G-Hauptstadt Berlin

24.02.2017 | Messenachrichten

Auf der molekularen Streckbank

24.02.2017 | Biowissenschaften Chemie