Internationale Konferenz zur Halbleitertechnologie GADEST 2003

IHP/BTU Joint Lab positioniert sich auf der GADEST (Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology) vom 21. bis 26.9. in Zeuthen

Die GADEST 2003, eine der führenden internationalen Konferenzen auf dem Gebiet der Halbleitertechnologie, wurde gestern (21. September) im Seehotel Zeuthen (bei Berlin) eröffnet. Die Konferenz beschäftigt sich mit den Herausforderungen an Halbleiterwerkstoffe und Halbleitertechnologien in der Phase des Übergangs von der Mikroelektronik zur Nanoelektronik. Die Nutzung von multikristallinem Silizium für die Photovoltaik bildet einen weiteren Schwerpunkt der Tagung.

Organisiert wird die Tagung durch das IHP Frankfurt (Oder) und das IHP/BTU Joint Lab Cottbus, einer gemeinsamen Einrichtung des IHP (Institut für innovative Mikroelektronik) und der BTU. Die Schirmherrschaft über GADEST (Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology) hat Brandenburgs Wissenschaftsministerin Prof. Johanna Wanka übernommen. Geleitet wird die Konferenz durch die Frankfurter Wissenschaftler Hans Richter und Martin Kittler, die beide auch dem Joint Lab angehören und an der BTU Vorlesungen halten. 140 Wissenschaftler aus mehr als 20 Staaten haben sich zu GADEST angemeldet. Das Joint Lab selbst ist mit sechs Beiträgen beteiligt.

Die Konferenz wurde 1985 in Deutschland durch Hans Richter vom IHP ins Leben gerufen und findet seitdem im Zweijahresrhythmus statt – zunächst bis 1995 in Ostdeutschland, danach 1997 in Spa (Belgien), 1999 in Höör (Schweden) und 2001 in Catania (Italien). Aus Anlass ihres 10-jährigen Bestehens findet sie dieses Jahr wieder in Deutschland statt.