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Gestochen scharfe Livebilder und 10-Sekunden-CT

16.06.2010
phoenix|x-ray präsentierte auf der SMT seine neue Detektortechnologie

Brillante Bilder mittels temperaturstabilisiertem Digitaldetektor – hochauflösende Röntgeninspektion mit CAD Live-Overlay


nanoCT eines BGA-Balls (Durchmesser 300 µm) nach 4000 Temperatur-Stress-Zyklen. Die gemessenen Risse sind 1-10 µm breit.

Als Highlight auf der diesjährigen SMT in Nürnberg präsentierte die Produktlinie phoenix|x-ray von GE Sensing & Inspection Technologies ihren neuen hochdynamischen temperaturstabilisierten DXR Digitaldetektor. Mit bis zu 30 fps (frames per second) gewährleistet er eine besonders rauscharme und brillante Bildqualität und ermöglicht die Aufnahme von Computertomographien (CT) elektronischer Bauteile in nur 10 Sekunden.

Zum ersten Mal präsentierte GE auf der SMT seinen phoenix microme|x DXR-HD, der mit der neuen Digitaldetektor-Technologie aus eigener Fertigung ausgestattet ist. Auf der Messe nutzten viele Besucher die Möglichkeit, sich diese neue Technik live anhand von eigenen Proben oder an Beispielproben an den Röntgeninspektionssystemen vorführen zu lassen. Neben dem phoenix microme|x DXR-HD stellte das Unternehmen auch den phoenix nanome|x aus. Beide Systeme verfügen standardmäßig über eine offene mikrofocus bzw. nanofocus -Röntgenröhre mit 180 kV maximaler Röhrenspannung und 15 bzw. 20 W maximaler Leistung, die eine Detailerkennbarkeit von bis zu 200 Nanometer beim phoenix nanome|x und bis zu 0,5 Mikrometer beim phoenix microme|x ermöglicht. Durch die maximal anlegbare hohe Röhrenspannung und Leistung wird sichergestellt, dass auch hoch absorbierende Teile wie z.B. Kühlkörper auf PCBs durchstrahlt werden können. Dies ist vor allem auch für aussagekräftige 3D CT wichtig. Die Manipulation der Probe erfolgt über eine kalibrierte, synchronisierte 5-Achsen-CNC mit extrem hoher Wiederholgenauigkeit.

Neben der aussagekräftigen Durchstrahlungsprüfung, die vollautomatisch oder auch manuell durchgeführt werden kann, sind die Röntgeninspektionssysteme der Produktlinie phoenix|x-ray auch hervorragend für hochauflösende 3D-Analysen von Bauteilen mittels Computertomographie (CT) geeignet. Dazu wird die Probe im Röntgenstrahl gedreht. Aus der so entstandenen Serie von 2D Durchleuchtungsbildern wird ein dreidimensionales Modell für die zerstörungsfreie Unter¬suchung und dreidimensionale Visualisierung kleinerer Proben errechnet. Der phoenix nanome|x erlaubt sogar extrem hochauflösende nanofocus Computer¬tomo¬graphie mit Voxelauflösungen von wenigen Mikrometern. Dank der rauscharmen Hochgeschwindigkeits-CT-Datenaufnahme mittels DXR-Technologie sowie der hervorragenden Abstimmung zwischen Hard- und Software in phoenix|x-ray Röntgensystemen können aussagekräftige 3D CT Ergebnisse schon innerhalb von 10 Sekunden vorliegen.

Dass das Unternehmen mit seinen Röntgeninspektionssystemen den Zahn der Zeit getroffen hat, zeigt, dass direkt auf dem Messestand ein Vertrag für den Kauf des neuen phoenix microme|x DXR-HD unterzeichnet wurde. Laut Aussage des Kunden haben vor allem die Bildqualität, die professionelle Beratung sowie die hervorragende Ausstattung des Systems sowohl seitens der Software als auch der Hardware (inkl. eines Drehtisches, den es bei anderen auf dem Markt angebotenen Systemen nicht gibt) überzeugt und waren somit die ausschlaggebenden Kaufkriterien. Das System ist mit allen neuen Technologien (u.a. DXR Digitaldetektor oder dem Softwarepaket x|act für die vollautomatische CAD-Daten basierte Programmierung und Röntgeninspektion zur besonders zuverlässigen Fehlererkennung mit extrem hoher Auflösung und Wiederholgenauigkeit) ausgestattet.

Für Leseranfragen:
GE Sensing & Inspection Technologies GmbH
phoenix|x-ray
Niels-Bohr-Str. 7
31515 Wunstorf
Tel.: +49 5031 172-0
Fax.: +49 5031 172-299
phoenix-info@ge.com
Pressekontakte:
Dr. Dirk Neuber
GE Sensing & Inspection Technologies GmbH
+49 5031 172 124
dirk.neuber@ge.com
Beate Prüß
GE Sensing & Inspection Technologies GmbH
+49 5031 172 103
beate.pruess@ge.com

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