Verfahren zum Testen von Halbleiterstrukturen
Die Erfindung Verbessert die Unterdrückung von Reflexionswellen beliebiger Richtung und Polarität im Zusammenhang mit der Prüfung von Halbleiterstrukturen auf spannungsfestigkeit bzw. durchbruchverhalten.
Weitere Informationen: PDF
GWT-TUD GmbH; FB Sächsische PatentVerwertungsAgentur (SPVA)
Tel.: 0351-8734 1725
Ansprechpartner
Jens Voigt
Media Contact
Alle Nachrichten aus der Kategorie: Technologieangebote
Neueste Beiträge

Nano-Fluoreszenz-Signale detektieren
– neue Möglichkeiten beim Kennzeichnen von Produkten. Forscherinnen und Forscher von INNOVENT e.V. und der Ferdinand-Braun-Institut gGmbH haben eine Messtechnik entwickelt, mit der sich erstmalig unabhängig von aufwändiger Laborausstattung nanoskalige…

Leben im Erdinneren so produktiv wie in manchen Meeresbereichen
Mikroorganismen in Grundwasserleitern tief unter der Erdoberfläche produzieren ähnlich viel Biomasse wie solche in manchen Meeresbereichen. Zu diesem Ergebnis kommen Forschende unter Leitung der Universität Jena und des Deutschen Zentrums…

Urbaner Holzbau: Farbige Fassaden steigern Akzeptanz
Im Gedächtnis zahlreicher Kulturlandschaften ist der Baustoff Holz tief verankert. Wieviel Zukunft das Bauen mit Holz eröffnet, zeigt nun eine Studie des Karlsruher Instituts für Technologie (KIT) auf. Unter baukulturellen…