Moderne Oberflächenanalytik

Aus diesem Grund kommt der Oberflächenanalytik in der Praxis eine große Bedeutung zu. Im Bereich Forschung und Entwicklung, Prozesskontrolle, Qualitätssicherung und natürlich im Schadens- oder Reklamationsfall gibt es ein ganze Reihe unterschiedlichster Fragestellungen, die nur mit geeigneten, oberflächenanalytischen Methoden, wie z.B. AFM, XPS/ESCA, REM/EDX, TOF-SIMS, bearbeitet werden können.

Das Haus der Technik bietet dazu im CeNTech Centrum für Nanotechnologie in Münster am 20.-21. September 2007 das Seminar „Moderne Oberflächenanalytik“ an.

Dieses Seminar vermittelt Ihnen einen Überblick über die wichtigsten oberflächenanalytischen Methoden, erklärt verständlich, wie sie funktionieren, welchen Nutzen Sie im Einzelfall davon erwarten können und wo die Grenzen liegen. Auch für Gespräche mit den Referenten und anderen Teilnehmern bietet sich nicht zuletzt beim gemeinsamen Abendessen ausreichend Zeit. Bringen Sie auch gerne eigene Proben mit, da im Rahmen von praktischen Vorführungen an mehreren Geräten deren Arbeitsweise auch an Ihren Proben verdeutlicht werden kann.

Information
Nähere Informationen finden Interessierte beim Haus der Technik e.V.
unter Tel. 0201/1803-1 (Frau Ramzi), Fax 0201/1803-346 oder direkt unter http://www.hdt-essen.de/htd/veranstaltungen/W-H050-09-182-7.html