Optimierter Detektorkopf für spektrometrische Messungen
Ein optischer Sensorkopf für spektrometrische Messungen von NIR-Remissionsspektren wurde so modifiziert, dass die direkte Reflexion an den optischen Elementen minimiert wird. Diese Reflexion verursacht ein im Regelfalle von der Temperatur abhängiges Störsignal. Mit Hilfe der Erfindung wird die direkte Reflexion effektiv auf unter 0,1 % vermindert. Das Prinzip lässt sich sowohl zusätzlich zu einer Antireflexbeschichtung als auch an Stelle einer Antireflexbeschichtung anwenden. Die Wirkung ist vollkommen temperaturunabhängig. Die Erfindung kann für alle Spektralbereiche vom UV bis zum IR angewendet werden. Auf die Erfindung wurde das Deutsche Patent 102008009599 erteilt.
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MBM ScienceBridge GmbH
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Dr. Jens-Peter Horst
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