Freiburger Fraunhofer-Forscher erhält Ulrich Gösele Young Scientist Award

Dr. Martin Schubert vom Fraunhofer-Institut für Solare Energiesysteme ISE wurde mit dem Ulrich Gösele Young Scientist Award 2013 ausgezeichnet. Er erhielt die Auszeichnung für seine Forschungsarbeiten über Messung, Simulation und Herkunft von Verunreinigungen in multikristallinem Silicium. Die Verleihung fand am 23. Oktober anlässlich der 7. Internationalen Konferenz »Crystalline Silicon for Solar Cells (CSSC-7)« in Fukuoka, Japan, statt.

»Wir freuen uns sehr über diese renommierte Auszeichnung für Dr. Martin Schubert. Er befasst sich seit vielen Jahren u. a. mit der Charakterisierung und Qualitätssicherung von Siliciummaterial. Mit seiner wissenschaftlichen Arbeit hat er wesentlich zur Forschung und Entwicklung in diesem Bereich beigetragen«, so Dr. Wilhelm Warta, Abteilungsleiter »Charakterisierung und Simulation« am Fraunhofer ISE. Martin Schubert arbeitet seit 2004 in verschiedenen Funktionen am Fraunhofer ISE. Seit 2012 ist er Gruppenleiter »Material- und Zellanalyse«.

Zu Schuberts Forschungsschwerpunkten zählen die Entwicklung von lumineszenzbasierten Charakterisierungsmethoden, die Simulation von Verunreinigungen in Silicium sowie die bildgebende Zellcharakterisierung. Im Besonderen beschäftigt er sich mit Einflüssen von Metallen auf den Wirkungsgrad von Solarzellen. Für seine herausragenden Forschungsergebnisse auf diesem Gebiet wurde er jetzt mit dem Ulrich Gösele Young Scientist Award ausgezeichnet. Der Preis wurde Schubert im Rahmen der 7. Internationalen Konferenz »Crystalline Silicon for Solar Cells (CSSC-7)« in Fukuoka, Japan, vom Chairman der Konferenz, Prof. Koichi Kakimoto verliehen. Auf der Konferenz hielt Martin Schubert einen eingeladenen Vortrag über den Einfluss von Eisen und Kobalt aus dem Kristallisierungstiegel auf die Siliciumqualität.

Dr. Martin Schubert hat an der Universität Montpellier, Frankreich, und der Albert-Ludwigs-Universität Freiburg Physik studiert und an der Universität Konstanz zum Thema »Detektion von infraroter Strahlung zur Beurteilung der

Materialqualität von Solar-Silizium« promoviert. Seit Oktober 2013 arbeitet Schubert im Rahmen eines Forschungs-stipendiums der Japan Society for the Promotion of Science (JSPS) als Gastprofessor an der Meiji-University in Tokyo sowie bei der Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA), und forscht an spektroskopischen Methoden zur Untersuchung von Silicium.

Der Ulrich Gösele Young Scientist Award
Der Ulrich Gösele Young Scientist Award wird seit 2011 von einer Jury aus Mitgliedern des CSSC-Konferenz Komitees an junge Wissenschaftler verliehen, die herausragende Ergebnisse in der Siliciumforschung erzielt haben. Ausgezeichnet werden wissenschaftlich-technische Beiträge auf dem Gebiet des Siliciumausgangsmaterials, der Kristallzüchtung, der Waferherstellung oder des sogenannnten Defect Engineering. Der Preis ist nach Prof. Dr. Ulrich Gösele benannt. Gösele war u. a. Direktor am Max-Planck-Institut für Mikrostrukturphysik in Halle und gilt bis heute weltweit als einer der renommiertesten Wissenschaftler auf dem Gebiet der Halbleiterphysik und -technik.