Kombination aus Raman- und Rasterkraftmikroskop

Mittels benutzerspezifischen und vordefinierten Messsequenzen lassen sich große Proben oder Serien von kleinen Proben an beliebig vielen Positionen schnell und umfassend untersuchen, und das ohne laufende Prozesskontrolle des Nutzers.

Auch ist kein manueller Probentransfer notwendig, um dieselben Probenstellen im AFM- und im Raman-Modus abzubilden. Die Automatisierung und die schnelle Generierung von Bildern verringern die gesamten Messzeiten oder ermöglichen es, mehr Proben in einer vorgegebenen Zeit zu bearbeiten. Alle vorhandenen Ressourcen im Labor können damit effizienter genutzt werden.

Speziell anspruchsvolle Aufgaben in der Qualitätskontrolle oder Routinetätigkeiten bei systematischen Forschungsarbeiten können davon enorm profitieren, um die Ergebnisse schneller zu publizieren oder marktfähig zu machen.

Mit der neuen WITec Project Plus Software für die mikroskopische Bildverarbeitung und chemometrische Raman Imaging Datenanalyse lassen sich verborgene Strukturen in Bildern automatisch sichtbar machen. Eine objektive, schnelle und konsistente Interpretation der Daten ist damit gewährleistet.

Spezielle multivariate Datenanalyse-Tools wie die Cluster Analyse oder die Hauptkomponentenanalyse (Prinicipal Component Analysis, PCA) für konfokale Raman Imaging Dateien zeichnen die neue Software aus. Eine ganze Reihe von weiteren Analysealgorithmen ermöglichen eine umfassende und benutzerfreundliche Daten- und Bildauswertung.