Forschungsergebnisse zeigen: Bupropion steigert die Libido bei Frauen, die unter vermindertem sexuellen Verlangen leiden
Technische Zuverlässigkeit entscheidet mit über den Erfolg und Misserfolg in der Elektrik und Elektronik. Sie muss über den gesamten Produktlebenslauf kalkulierbar sein.
“Das Beherrschen der qualitativen und quantitativen Zuverlässigkeitsanalyse ist somit unerlässlich“, mahnt Professor Bertsche vom Institut für Maschinenelemente an der Universität Stuttgart. Er leitet die 24. VDI-Tagung Technische Zuverlässigkeit (TTZ), die branchenübergreifend die Bandbreite und Potenziale analytischer Zuverlässigkeitsmethoden aufzeigt und anhand von praxisrelevanten Beispielen veranschaulicht. Am 29. und 30. April 2009 veranstaltet das VDI Wissensforum die Tagung unter dem Motto “Entwicklung und Betrieb zuverlässiger Produkte” in Leonberg.
Experten aus Industrie und Wissenschaft präsentieren 23 Vorträge zu den Themenschwerpunkten Zuverlässigkeitsmethoden, Lebensdauerprognosen, Zuverlässigkeitsmanagement und -analyse. Spezielle Anforderungen, Bewertungsverfahren und Konzepte aus den Bereichen Fahrzeugtechnik, Bahntechnik und Produktionstechnik gewährleisten einen hohen Praxisbezug. Die Tagung wendet sich an den Personenkreis aus dem Maschinen-, Fahrzeug-, Anlagen- und Apparatebau, die mit der Entwicklung und dem Betrieb technischer Produkte betraut sind.
Anmeldung und Programm unter www.vdi.de/ttz2009 oder VDI Wissensforum Kundenzentrum, Postfach 10 11 39, 40002 Düsseldorf, E-Mail: wissensforum@vdi.de, Telefon: +49 (0) 211 62 14-201, Telefax: -1 54
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