Symposium zur Zuverlässigkeits- und Risikoanalytik in der Fahrzeugindustrie

Die Veranstaltung, die sich an Hersteller und Zulieferer komplexer technischer Produkte richtet, findet in Berlin statt. Anmeldungen sind ab sofort möglich.

„Zunehmende Produktkomplexität und verkürzte Entwicklungszeiträume führen vielfach zu komplexen Schadenssymptomen und Schadenskausalitäten innerhalb des Feldeinsatzes“, sagt Prof. Stefan Bracke. „Eine frühzeitige und präzise Erkennung der verursachenden Schadenskausalitäten ermöglicht den optimalen, direkten Einsatz von Produkt- oder Prozessverbesserungsmaßnahmen, so dass das Risiko weitergehender Schäden im Feld vermieden und die Produktzuverlässigkeit erhöht wird.“

Wie die Industrie damit umgeht, ist Thema des Symposiums. Experten aus der Automobil- und Luftfahrzeugindustrie erklären, worauf es bei einer praxisgerechten Umsetzung ankommt und wo die Risiken bei der Entwicklung von zuverlässigen Produkten liegen. Lösungsansätze werden anhand von konkreten, technischen Fallbeispielen aufgezeigt. Die Veranstaltung ist eine Informationsplattform für Interessierte aus dem industriellen Umfeld.

Im Mittelpunkt der kostenpflichtigen Fachtagung stehen Vorträge von Experten aus Wissenschaft und Praxis. Prof. Bracke hält einen Vortrag zum Thema „Herausforderungen der Risiko- und Zuverlässigkeitsanalytik in der Fahrzeugtechnik“ und sein Mitarbeiter, Marcin Hinz, M.Sc., referiert gemeinsam mit Dipl.-Ing. Gerold Saxler (Bertrandt Ingenieurbüro, Köln) zum Thema „Korrelation von Prüfstandserprobung und Feldeinsatz: Lebenszyklusorientierte Abbildung von komplexen Schadensmechanismen am Beispiel von Türsystemen“.

Detaillierte Informationen zu Programm, Anmeldung und Gebühren unter http://www.beuth.de.

Termin: 24.10.2013, ab 10 Uhr; Ort: Kempinsky Hotel Bristol Berlin, Kurfürstendamm 27, 10719 Berlin.

Kontakt:
Bergische Universität Wuppertal
Prof. Dr.-Ing. Stefan Bracke
Fachgebiet Sicherheitstechnik/Risikomanagement
Telefon 0202/439-2064
E-Mail bracke@uni-wuppertal.de

Media Contact

Dr. Maren Wagner idw

Weitere Informationen:

http://www.beuth.de

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