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Verfahren zur Erkennung von Schadstoffbelastungen in Lebensmitteln

19.05.2009
Die Technische Universität Ilmenau präsentiert auf der Fachmesse SENSOR+TEST ein neuartiges Verfahren zur Erkennung von Schadstoffbelastungen in Lebensmitteln.

Mit Hilfe eines speziellen Messgeräts, eines so genannten Miniaturspektrometers, lassen sich winzige Farbabweichungen ausmachen, die auf Qualitätsunterschiede von Lebensmitteln hindeuten. Das spektral messende System wurde im Fachgebiet Qualitätssicherung, geleitet von Professor Gerhard Linß, entwickelt.

Die SENSOR+TEST in Nürnberg ist vom 26. bis zum 28. Mai der wichtigste Treffpunkt für Unternehmen und Foschungseinrichtungen der Messtechnik und Sensorik aus der ganzen Welt. Am Gemeinschaftsstand "Forschung für die Zukunft" präsentiert die TU Ilmenau innovative Lösungen auf den Gebieten der Bildverarbeitung, Messtechnik und Sensorik.

Das Projekt "Smartpack", das sich ebenfalls mit der Verbesserung der Lebensmittelsicherheit beschäftigt, wurde im Fachgebiet Mikromechanische Systeme der TU Ilmenau unter Leitung von Professor Martin Hoffmann entwickelt. Dabei werden neuartige Sensoren in Verpackungsmaterialien integriert, um beispielsweise die gefährliche Unterbrechung einer Kühlkette beim Lebensmitteltransport aufzuspüren. Die Sensoren werden dazu bereits bei der Herstellung des Verpackungsmaterials sozusagen "eingeschweißt", um die verpackten Lebensmittel mit Hilfe elektromagnetischer Wellen und spezieller hochentwickelter Lesegeräte zu analysieren. Das Projekt "Smartpack" wird vom Bundesministerium für Bildung und Forschung gefördert.

Das Fachgebiet Graphische Datenverarbeitung, geleitet von Dr. Karl-Heinz Franke, stellt auf der SENSOR+TEST ein verbessertes Verfahren zur Oberflächenmessung vor. Mit der so genannten Weißlichtinterferometrie können hochpräzise und großflächig aufgelöste Tiefenbilder glatter und rauer Oberflächen erstellt werden. Diese Technologie findet vor allem auf dem Gebiet der Halbleitertechnologie Anwendung. Sie wurde am Fachgebiet Graphische Datenverarbeitung optimiert und so für den Einsatz in Nanopositionier- und Nanomessmaschinen weiterentwickelt. Internationales Renommee hat sich dabei der Sonderforschungsbereich 622 der TU Ilmenau verdient.

Fachmesse SENSOR+TEST, Halle 12, Gemeinschaftsstand 12-222 "Forschung für die Zukunft" der Länder Thüringen, Sachsen und Sachsen-Anhalt

Kontakt:
Technische Universität Ilmenau, Fachgebiet Qualitätssicherung,
Prof. Dr.-Ing. habil. Gerhard Linß, Tel.: 03677 69-3822, E-Mail: Gerhard.Linss@tu-ilmenau.de
Technische Universität Ilmenau, Fachgebiet Mikromechanische Systeme,
Prof. Dr.-Ing. Martin Hoffmann, Tel.: 03677 69-2487, E-Mail: Martin.Hoffmann@tu-ilmenau.de
Technische Universität Ilmenau, Fachgebiet Grafische Datenverarbeitung,
Dr.-Ing. habil. Karl-Heinz Franke, Tel.: 03677 2010-301, E-Mail: Karl-Heinz.Franke@tu-ilmenau.de

Bettina Wegner | idw
Weitere Informationen:
http://www.tu-ilmenau.de/

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