Scharf ohne Grenzen – Detailreiches Panoramabild aus Einzelfotos

Siemens-Forscher haben eine Technik entwickelt, die zahlreiche Einzelbilder nahtlos zu einem optimal belichteten und detailreichen Gesamtbild zusammenfügt.

Wie das Forschungsmagazin „Pictures of the Future“ berichtet, ließe sich damit ein Sicherheitssystem entwickeln, das große Flächen beobachtet, nie von Reflexionen geblendet ist und kein Ereignis verpasst, egal wie stark der Kontrast oder wie unterschiedlich die Lichtverhältnisse sind. Hinter der Forschungsarbeit bei Siemens Corporate Research (SCR) in Princeton im US-Staat New Jersey und der Carnegie Mellon Universität in Pittsburgh steckt die Idee, dass Einzelbilder kleineren Ausschnitts immer besser zu belichten sind, als ein großes Panoramafoto.

Die Blende bestimmt die Tiefenschärfe und die Detailgenauigkeit einer Aufnahme. Eine weit offene Blende bildet auch dunkle Bereiche des Bildes ausreichend ab, während kleine Blendenöffnungen sowohl Vordergrund als auch Hintergrund scharf abbilden. Die Technik des „high dynamic range image“ (Bilder mit hoher Dynamik) vereint die Vorteile beider Blendeneinstellungen. Dabei macht eine Kamera viele Einzelbilder einer Szenerie, die jeweils optimal belichtet werden. Das System fügt diese dann zu einem Gesamtbild zusammen. So erhalten die Forscher detailreiche Aufnahmen etwa eines Parkplatzes.

SCR, das Siemens-Forschungszentrum in USA, hat zahlreiche Kooperationen mit amerikanischen Universitäten. Weitere Projekte umfassen die Rekonstruktion von dreidimensionalen Bildern aus Videodaten (Universität von Rochester im Staat New York) oder die Theorie der Mustererkennung (Universität Princeton).