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Neue Größen optisch Messen

25.06.2007
VDI-Fachtagung „Optische Messung technischer Oberflächen“ am 9. und 10. Oktober 2007 in Hannover

Immer kürzer werdende Entwicklungszeiten und kleinere Losgrößen bei steigender Produktvielfalt erfordern in Zukunft bessere Messmethoden. Die Fachtagung „Optische Messung technischer Oberflächen“ liefert einen Beitrag dazu, optische Messsysteme als eine sinnvolle und auch notwendige Ergänzung zu den bewährten taktilen Messverfahren zu sehen, um Zugang zu bisher nicht erfassbaren Messgrößen zu erlangen. Auf der vom VDI Wissensforum am 9. und 10. Oktober 2007 in Hannover veranstalteten Tagung wird ein Überblick der optischen Messsysteme präsentiert, wie sie heute zur flexiblen, schnellen und berührungslosen Geometrieprüfung bei der Produktentwicklung, Prozesskontrolle und Prozesslenkung eingesetzt werden.

Referenten stellen Messaufgaben aus Industrie und Forschung mit den Schwerpunkten Form-, Rauheits- und Nanomesstechnik sowie der Schichtanalyse vor. Ergänzend zum Einsatzbereich, gibt die Tagung den aktuellen Stand der Normung, der Kalibrierrichtlinien und der Verfügbarkeit von Geometrienormalen zur Rückführung auf die international vereinbarte Meterkonvention wieder. An ausgewählten Sensoren wird die Ermittlung von Messunsicherheitsbudgets nach dem Leitfaden „Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement“ (GUM) gezeigt.

Neben dem Tagungsband veröffentlicht der VDI zur Tagung ein anwenderorientiertes Handbuch, das die vorgestellten optischen Messverfahren hinsichtlich ihres physikalischen Prinzips, ihres Anwendungsgebietes und einer Kurzspezifikation übersichtlich erläutert. Beide Publikationen werden den Teilnehmern zur Verfügung gestellt.

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»Messsystem »Messverfahren

Anmeldung und Programm im Internet unter www.vdi-wissensforum.de oder Bestellung über VDI Wissensforum Kundenzentrum, Postfach 10 11 39, 40002 Düsseldorf, E-Mail: wissensforum@vdi.de, Telefon: +49 (0) 211 62 14-201, Telefax: -1 54

Caesar Sasse | VDI
Weitere Informationen:
http://www.vdi.de

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