Mit dem PC die Schichtdicke kontrollieren
Dünne Schichten sind in den letzten Jahren zu einem bedeutenden Funktionsträger in allen Industriebranchen geworden. Mit nur minimalem Materialeinsatz gelingt es, die zentralen Eigenschaften von Bauteilen und Komponenten definiert zu optimieren. Höhere Korrosionsbeständigkeit, niedrigere Verschleißraten, neue optische Effekte oder ein verbessertes Reinigungsverhalten sind nur einige Beispiele, die demonstrieren, welches enorme Potenzial in der modernen Beschichtungstechnik liegt.
Zur technologischen Realisierung solcher Schichten und zur Einstellung der geforderten Schichtqualitäten ist daher eine hochwertige Prozesskontrolle unbedingte Voraussetzung. Mit der PCI-Karte SQM-242 des Herstellers Sigma Instruments bietet die Firma Schaefer Technologie GmbH jetzt ein Modul an, mit dem ein herkömmlicher PC ohne größeren Aufwand direkt zu einem „Kontrollzentrum“ für die moderne Beschichtungstechnik wird. Das System nutzt dafür eine Windows basierte Software und beinhaltet zusätzlich zahlreiche LabView und Visual Basic Applikationen. Zu den Ausstattungsmerkmalen der PCI-Karte SQM-242 gehören unter anderem die Überwachung der vorliegenden Abscheidungsraten und die permanente Kontrolle der aktuellen Schichtdicken. Durch die Platzierung von mehreren Sensoren in der Beschichtungskammer wird es dem Anwender zudem ermöglicht, die simultane Abscheidung von bis zu zwei verschiedenen Materialien in einem Beschichtungsprozess zu überwachen.
Weitere Informationen erhalten Sie von den Spezialisten der Firma Schaefer Technologie GmbH, die Sie auch gerne in Ihrem konkreten Anwendungsfall kompetent beraten.
Schaefer Technologie GmbH
Frau Dr. Gertrud Goetz
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Die Materialwissenschaft bezeichnet eine Wissenschaft, die sich mit der Erforschung – d. h. der Entwicklung, der Herstellung und Verarbeitung – von Materialien und Werkstoffen beschäftigt. Biologische oder medizinische Facetten gewinnen in der modernen Ausrichtung zunehmend an Gewicht.
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