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Inspektion von Oberflächen mit integrierter Vermessung des Höhenprofils

05.04.2001


SICoS: Inspektion von

Oberflächen mit Vermessung des Höhenprofils

Die Unterscheidung von ebenen Fehlstellen wie Flecken und Verfärbungen und dreidimensionalen Fehlstellen wie Beulen und Materialausbrüchen ist ein wichtiges Standardproblem bei der automatischen Inspektion von Oberflächen. Mit einem Sensor, der zusätzlich zum "normalen" Bild der Oberfläche auch noch passgenau die exakte Höheninformation liefert, kann diese für die praktische Anwendung oft entscheidende Aussage gewonnen werden.

Das Bildauswertesystem SICoS (Surface Inspection for Color and Shape), erfüllt diese Anforderungen. Simultan zur Farbinformation der Oberfläche ermittelt das System per Lichtschnitt passgenau auch noch die Höheninformation. Ortsauflösung und Höhenauflösung lassen sich dabei in weiten Grenzen an die Aufgabe anpassen. Basis des Systems ist eine farbtüchtige Zeilenkamera, mit der die Inspektion in einem Durchlauf vorgenommen werden kann. SICoS wurde vom Fraunhofer-IITB, einem Institut der Fraunhofer-Allianz Vision, entwickelt und wird auf der Control in Sinsheim präsentiert.

Beispiel: Inspektion von Profilbrettern
Breite des Brettes: 200 mm
Ortsauflösung des Farbbildes in Zeilenrichtung: 0,1 mm/Pixel
Abstand der Höhenmesswerte: 2 mm
Höhenauflösung: besser als 0,1 mm
Zeilenfrequenz: 4,5 kHz (für jede Zeile Farbinformation und 3-D-Information).

Messedaten:
Control 8.-12. Mai 2001 Sinsheim
Halle 3, 3407

Pressekontakt:
Regina Fischer
Fraunhofer-Allianz Vision
Am Weichselgarten 3
91058 Erlangen
Tel. 0 91 31/7 76-5 30
Fax 0 91 31/7 76-5 99
E-Mail: vision@fhg.de
http://www.vision.fhg.de

Weitere Informationen finden Sie im WWW:

Regina Fischer | idw

Weitere Berichte zu: Farbinformation Fehlstelle Inspektion SICoS Vermessung

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