Am Stand 6-122 in Halle 6 präsentiert das Fraunhofer IMWS seine Lösungen für Materialauswahl, Bauteilcharakterisierung und Fehlerdiagnostik.
Die Einführung der EUV-Lithografie geht mit einem fundamentalen technologischen Umbruch bei der Belichtung von Halbleiterstrukturen einher. Aufgrund der…
GE Inspection Technologies stellt erstmals auf der SMT in Nürnberg auf Stand 400 in Halle 7 eine deutlich verbesserte Version seiner 2D…
Mit ihrem Live-Overlay der Inspektionsergebnisse und CAD-Padinformationen bieten sie eine besonders schnelle und einfache Identifizierung defekter Lötstellen….
Einem internationalen Team unter Federführung von Wissenschaftlern des Bonner Max-Planck-Instituts für Radioastronomie ist es gelungen, die Zentralregion eines…
Bundesagentur für Arbeit fördert berufliche Qualifikation von KurzarbeiternFeste Kurse ab Juni, Firmenschulungen nach AbspracheDie Produktionsbedingungen in…