Neues Berliner Verfahren zur Messung ultrakurzer Laserimpulse
Berliner Forscher des Max-Born-Instituts für Nichtlineare Optik und Kurzzeitspektroskopie (MBI) haben eine patentierte Messanordnung für ultrakurze Laserpulse entwickelt.
Damit ist es möglich, Lichtblitze besser als bisher zu charakterisieren. Die Messanordnung eignet sich für Pulse von nur wenigen Femtosekunden. Eine Femtosekunde ist der millionste Teil einer Milliardstelsekunde und entspricht einer hauchdünnen Lichtscheibe. Zum Vergleich: Das Blitzlicht eines Fotoapparats beträgt eine Sechzigstelsekunde. Wenn eine Femtosekunde einer Sekunde entspräche, so würde das Blitzlicht mehr als eine halbe Million Jahre lang leuchten.
Die Forscher des MBI haben die Herausforderung, den zeitlichen Verlauf und die räumlichen Eigenschaften des Strahls zugleich zu messen, mit einem System von winzigen Linsen gelöst. Diese Linsen, die sich auf Spiegeln befinden, haben weniger als einen halben Millimeter Durchmesser und werden nicht geschliffen, sondern mit einem Aufdampfverfahren erzeugt. Durch eine Anordnung der Linsen, die aus Quartzglas bestehen, wird aus einem Titan-Saphir-Laser die „Lichtscheibe“ geschossen. Dabei entsteht ein aussagekräftiges Interferenzmuster, das Informationen über die Charakteristik des Laserstrahls gibt. Auf Grund der neuen Messanordnung werden verbesserte Laserquellen für neue Anwendungen entwickelt, zum Beispiel für die Untersuchung ultraschneller chemischer Prozesse.
Kontakt:
Max-Born-Institut für Nichtlineare Optik und Kurzzeitspektroskopie
Dr. Rüdiger Grunwald
Telefon 030 / 6392-1457
Email: grunwald@mbi-berlin.de
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Weitere Informationen:
http://www.fv-berlin.de/fvpm.htm.Alle Nachrichten aus der Kategorie: Verfahrenstechnologie
Dieses Fachgebiet umfasst wissenschaftliche Verfahren zur Änderung von Stoffeigenschaften (Zerkleinern, Kühlen, etc.), Stoffzusammensetzungen (Filtration, Destillation, etc.) und Stoffarten (Oxidation, Hydrierung, etc.).
Unter anderem finden Sie Wissenswertes aus den Teilbereichen: Trenntechnologie, Lasertechnologie, Messtechnik, Robotertechnik, Prüftechnik, Beschichtungsverfahren und Analyseverfahren.
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