Blitztest für die Chip-Produktion

Um erforderliche Funktionstests bei der Chip-Produktion effizienter zu machen, wurde ein neues Verfahren zur schnelleren Ladung der Testdaten entwickelt, welches zudem sicher auf unvorhergesehene Testwerte reagiert. Ein sogenannter „Scan Test“ ist ein obligatorisch ausgeführter Produktionstest, der für jeden produzierten Chip ausgeführt wird, um Fehler während der Fertigung zu erkennen. Um während des Scan Tests die Logikbereiche eines Chips zu testen, werden in das Design Abtastpfade eingebaut, die es erlauben, während des Tests den Zustand der Schaltung gezielt zu kontrollieren und auslesen zu können. Dabei treten oft unbestimmte bzw. nicht vorhersehbare Werte auf, was ein Problem darstellt, da die Ausgaben dann nur teilweise oder gar nicht auf ihre Korrektheit geprüft werden können. Zur Lösung des Problems hat sich das Maskieren von unbekannten Werten als sehr effektiv erwiesen. Hierzu gibt es verschiedene Lösungsansätze. Alle bisher vorhandenen Lösungen sind jedoch komplex und vergleichsweise langsam. Die vorliegende Erfindung beinhaltet ein effizientes Maskierungsverfahren für Scan Tests. Da die Maskierungsdaten hierbei direkt über die Abtastpfade geladen werden, verläuft die Ladung nicht mehr seriell sondern parallel, so dass sich die Ladezeit entsprechend reduziert.

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Martina Roth