Fraunhofer Vision-Seminare für die Qualitätssicherung mit Bildverarbeitung 2013

Wärmefluss-Thermographie als zerstörungsfreies Prüfverfahren für die Qualitätssicherung in der Produktion

Mit thermographischen Verfahren können unterhalb der Oberfläche liegende und daher äußerlich nicht sichtbare Fehlstellen in Werkstücken erkannt werden, indem der Wärmefluss bzw. die Wärmeleitfähigkeit in den Prüflingen analysiert wird. Das Seminar stellt Theorie und mögliche Anwendungen dieser Prüfmethode vor. Die praktische Einsatzbreite reicht von der Erkennung von Materialdefekten über die Bestimmung von Schichtdicken bis hin zur Überprüfung von Schweißnähten und anderer Fügeverbindungen sowie dem Auffinden von Fremdkörpern in Lebensmitteln.
Nächster Termin: 6. und 7. November 2013, Erlangen
http://www.vision.fraunhofer.de/de/events/188.html
Optische 3-D-Messtechnik für die Qualitätssicherung in der Produktion
Die exakte Einhaltung geometrischer Abmessungen spielt bei der Qualitätssicherung in der Produktion eine große Rolle. Die Messung mit mechanischen Lehren oder Koordinatenmessmaschinen ist extrem zeitaufwändig und kann so meist nur an Stichproben vorgenommen werden. Mit der berührungslosen optischen Messtechnik werden die Messungen derzeit etwa 10- bis 1000-fach beschleunigt. Methoden wie die Röntgen-Computertomographie ermöglichen zudem, auch im Materialinneren verborgene Strukturen beliebig komplexer Objekte aus fast allen Werkstoffen mit hoher Genauigkeit zu vermessen. Die Performance und Einsatzbreite moderner Systeme nehmen dabei ständig zu und erlauben in geeigneten Fällen die Umsetzung von Null-Fehler-Konzepten im Takt der industriellen Produktion.
Nächster Termin: 20. und 21. Dezember 2013, Magdeburg
http://www.vision.fraunhofer.de/de/events/189.html
Inspektion und Charakterisierung von Oberflächen mit Bildverarbeitung
Im Bereich der Oberflächenprüfung ermöglichen die Fortschritte der Technik nicht nur ständig höhere Prüfgeschwindigkeiten und immer kompaktere Bauweisen der Prüfsysteme, sondern, neben der traditionellen Auswertung zweidimension aufgenommener Texturen, auch die Erfassung zusätzlicher Oberflächeneigenschaften die die Topographie im Nanometerbereich. Darüber hinaus gelingt die schnelle Bewertung farbiger, gemusterter, transparenter, stark reflektierender oder spiegelnder Oberflächen. Im Seminar werden dazu unterschiedliche Prüf- und Analysemethoden vorgestellt.
Nächster Termin: 4. und 5. Dezember 2013, Karlsruhe
http://www.vision.fraunhofer.de/de/events/190.html