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Hochauflösende Positionsmesssysteme für extrem beengte Einbauverhältnisse

17.03.2006


Neben hoher Auflösung und Genauigkeit sind geringer Einbauraum und niedrige Masse wichtige Kriterien für den Einsatz von Positionsmeßsystemen in Messgeräten und besonders in Komponenten der Mikrotechnik.

Bewegte Massen müssen klein gehalten werden, um störende Rückwirkungen auf den Mess- oder Regelkreis zu minimieren.

Diesen Forderungen Rechnung tragend hat NUMERIK JENA die Meßsystembaureihe LIK 4 entwickelt, die eine weitere Verringerung des Einbauraumes und der Masse gegenüber der schon sehr kleinen Baureihe LIK 2 möglich macht.

Wie von den Standardbaureihen bekannt, wird eine Wegauflösung bis 0,05 µm mit systeminterner Interpolation ohne Zusatzelektronik erreicht. Eine dynamische Signalregelung sorgt für signifikant reduzierte Interpolationsfehler, die z. B. durch Maßstabverschmutzung oder Anbaufehler verursacht werden können. Hohe Maßstabgenauigkeiten bis ± 1 µm und Messgeschwindigkeiten bis 1,6 m / s bei einer Auflösung von 0,1 µm sind weitere Merkmale.

Die EPIFLEX-Messmodule werden auch in der nicht eingehausten Version angeboten. Die Messkopfabmessungen reduzieren sich dann auf 8 x 13 x 2 mm.

Für Rundachsen und Torque-Motoren werden die Baureihen Encoder Kit R und RIK angeboten. Es steht eine breite Palette von Rasterscheiben mit Außendurchmessern von 36 mm bis 200 mm und extrem großen freien Innendurchmessern sowie Strichzahlen von 1000 bis 24000 zur Verfügung. Die Rasterscheibe kann ohne Zusatzteile direkt auf der rotierenden Baugruppe befestigt werden. Das gesamte Meßsystem hat eine Bauhöhe von nur 7 mm. Signalregelung und optionale Signalinterpolation bis 100-fach gehören auch hier zum Standard.

NUMERIK JENA GmbH
Ilmstr. 4
D-07743 Jena
Tel.: +49 (0)3641-4728-0
Fax.: +49 (0)3641-4728-20
info@numerikjena.de

Ansprechpartner:
Johannes Möbius
Tel.: 03641-4728-21
moebius@numerikjena.de

| Deutsche Messe AG
Weitere Informationen:
http://www.numerikjena.de
http://www.hannovermesse.de

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