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Schnellsuche für das Suchwort High-Resolution X-Ray Diffraction

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New NIST Nano-Ruler Sets Some Very Small Marks

Designed to be the most accurate commercially available “meter stick” for the nano world, the new measuring tool—a calibration standard for X-ray diffraction—boasts uncertainties below a femtometer. T...

Physik Astronomie | nachricht Nachricht

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