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Neues Elektronenmikroskop entwickelt

08.08.2002


Erstmals Messungen im Sub-Angstrombereich möglich

IBM und die NION Corporation haben gemeinsam ein neuartiges Elektronenmikroskop entwickelt, das zum ersten Mal die Darstellung von Atomzwischenräumen ermöglicht. Wie die New York Times am Mittwoch berichtet hat, misst das Mikroskop im Sub-Angstrom-Bereich (ein zehn-billionstel Meter) und kann somit Objekte abbilden, die kleiner sind als ein Wasserstoff-Atom. Die stärkere Auflösung wird durch ein von NION entwickeltes, komplexes optisches System realisiert, 38 statt der bisher vier bis fünf Linsen bündeln den Elektronenstrahl.

Die neue Technologie ermöglicht die Darstellung dreidimensionaler Bilder bis in eine Tiefe von zehn Nanometern. Dadurch soll auch die Tiefenstruktur komplexer Moleküle in Zukunft besser erforschbar sein. Als ein erstes Einsatzgebiet des Mikroskops sehen die Forscher die Analyse von modernen Halbleiter-Transistoren. Dr. Philip Batson, wissenschaftlicher Leiter des Projekts bei IBM, sieht die Entwicklung als einen Paradigmenwechsel für die Mikroskopie, die eine große Zahl neuer Anwendungen möglich macht.

Im Bereich der Molekularelektronik und der Naturwissenschaften soll das Elektronenmikroskop zur Darstellung biologischer Prozesse innerhalb der einzelnen Zelle dienen. IBM selbst möchte die neuen Erkenntnisse in der Leitungsführung zukünftiger Computermodelle umsetzen.

Karin Brachtl | pte.online
Weitere Informationen:
http://www.nion.com
http://www.nytimes.com

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