Forum für Wissenschaft, Industrie und Wirtschaft

Hauptsponsoren:     3M 
Datenbankrecherche:

 

Qualität, Produktivität und Gewinn im Lackierprozess nachhaltig steigern

06.10.2014

DFO Lehrgang „Fehler im Beschichtungsprozess – sicher zuordnen, beheben und vermeiden“, 4. und 5. November 2014, Neuss

Fehler im Beschichtungsprozess führen zu einer reduzierten Produktivität und Wirtschaftlichkeit. Fehlerursachen zuverlässig erkennen und abstellen, ist daher ein wichtiger Schritt, um die Wettbewerbsfähigkeit zu sichern.


Während der Schulung wird versucht, die Ursache für Fehlerbilder zu ermitteln, die von den Teilnehmern mitgebracht wurden.

Das Wissen dafür vermittelt der Praxislehrgang „Fehler im Beschichtungsprozess – sicher zuordnen, beheben und vermeiden“, den die Deutsche Forschungsgesellschaft für Oberflächenbehandlung e.V. (DFO) am 4. und 5. November 2014 in Neuss durchführt.

Die Teilnehmer haben dabei Gelegenheit, Fehlerbilder aus ihrem Unternehmen mitzubringen. Im Rahmen des Lehrgangs wird dann versucht, die Ursache der Fehler aufzuklären. 

Wo gearbeitet wird, passieren Fehler – bei fehlerhaft lackierten oder beschichteten Oberflächen entstehen daraus aufwendige Nacharbeiten, teurer Ausschuss und damit hohe Kosten.

Nicht selten kommt es zu Schuldzuweisung zwischen Rohstoff-, Lack- und Gerätehersteller sowie Lackverarbeiter und Kunden, die zu nichts führen außer zu viel Ärger und zu weiteren Kosten.

Abhilfe schafft nur eine systematische Ursachensuche, aufgrund derer Fehler erkannt und abgestellt sowie zukünftig vermieden werden können.

Mit dem dafür erforderlichen Know-how beschäftigt sich der zweitägige Praxislehrgang „Fehler im Beschichtungsprozess – sicher zuordnen, beheben und vermeiden“ der DFO am 4. und 5. November 2014 in Neuss. 

Fehleranalyse in allen Facetten

Der erste Programmpunkt widmet sich den Grundlagen der Fehlerentstehung. Dabei werden unterschiedlichste Fehlerbilder wie beispielsweise Krater, Blasen, Kocher, Glanzschleier, Abplatzungen, Verfärbungen, Wolken- und Rissbildung sowie Läufer beschrieben. Einen Übersicht über die unterschiedliche Analyseverfahren, unter anderem Mikroskopie, TOF SIMS, EDX, REM und XPS, sowie deren Einsatzmöglichkeiten und Grenzen informiert die Schulung ebenfalls.

In einem Praxisteil können die Teilnehmer mit verschiedenen dieser Verfahren mitgebrachte Fehlerbilder analysieren. Außerdem wird dabei die Bedeutung der Oberflächenspannung theoretisch und praktisch thematisiert. Welche Informationen sind erforderlich, um die Ursache eines Fehlers eingrenzen zu können? Antworten auf diese Frage bietet die Veranstaltung in Form einer Prozessbeschreibung und daraus abgeleiteter, systematischer Maßnahmenplanung.

Der zweite Tag beginnt mit einer Einführung ins Thema Prozesskontrolle. Im Weiteren werden Hilfsmittel zur optimalen Prozessplanung vorgestellt. Darunter die FMEA (Fehler Möglichkeits- und Einfluss-Analyse), eine analytische Technik, um sicherzustellen, dass mögliche Fehler und deren Ursache beziehungsweise Wirkungszusammenhänge berücksichtigt und eliminiert werden.

Die Teilnehmer entwickeln dabei Checklisten zur Fehleranalyse. Unter dem Motto „Richtig messen“ erfahren sie außerdem, wie die verschiedenen in der Lackiertechnik eingesetzten Testmethoden wie etwa der Gitterschnitt zur Prüfung der „Größenordnung“ Haftfestigkeit richtig angewandt werden.

Der Praxislehrgang richtet sich an Rohstoffhersteller, Lackentwickler, Anwendungstechniker und Lackierer. Weitere Informationen sind unter www.dfo.info abrufbar. Über diese Internetseite ist auch eine Online-Anmeldung möglich. 

In Kürze:

Praxislehrgang Lackiervorrichtungen entwickeln

Termin:                      4. und 5. November 2014

Veranstaltungsort:   Neuss

Information und

Anmeldung:              www.dfo.info

DFO Service GmbH

Nicole Dopheide, dopheide@dfo-online.de

Telefon +49 2131 40811-24

Ansprechpartner für Redaktionen: 

SCHULZ. PRESSE. TEXT., Doris Schulz, Journalistin (DJV),

Landhausstrasse 12, 70825 Korntal, Deutschland Fon +49 (0)711 854085,

ds@pressetextschulz.de, www.schulzpressetext.de 

DFO e.V., Nicole Dopheide, Eurocenter Neuss, Europadamm 4, 41460 Neuss, Deutschland, Fon +49 (0)2131-40811-24, dopheide@dfo-online.de, www.dfo.info

Nicole Dopheide | SCHULZ. PRESSE. TEXT.

Weitere Nachrichten aus der Kategorie Seminare Workshops:

nachricht Workshop »Emissionsarme Bauprodukte und Wohngesundheit«
28.03.2017 | Fraunhofer-Institut für Holzforschung WKI

nachricht Nachwuchswissenschaftler blicken in die Quantenwelt
28.03.2017 | Max-Planck-Institut für Physik komplexer Systeme

Alle Nachrichten aus der Kategorie: Seminare Workshops >>>

Die aktuellsten Pressemeldungen zum Suchbegriff Innovation >>>

Die letzten 5 Focus-News des innovations-reports im Überblick:

Im Focus: Quantenkommunikation: Wie man das Rauschen überlistet

Wie kann man Quanteninformation zuverlässig übertragen, wenn man in der Verbindungsleitung mit störendem Rauschen zu kämpfen hat? Uni Innsbruck und TU Wien präsentieren neue Lösungen.

Wir kommunizieren heute mit Hilfe von Funksignalen, wir schicken elektrische Impulse durch lange Leitungen – doch das könnte sich bald ändern. Derzeit wird...

Im Focus: Entwicklung miniaturisierter Lichtmikroskope - „ChipScope“ will ins Innere lebender Zellen blicken

Das Institut für Halbleitertechnik und das Institut für Physikalische und Theoretische Chemie, beide Mitglieder des Laboratory for Emerging Nanometrology (LENA), der Technischen Universität Braunschweig, sind Partner des kürzlich gestarteten EU-Forschungsprojektes ChipScope. Ziel ist es, ein neues, extrem kleines Lichtmikroskop zu entwickeln. Damit soll das Innere lebender Zellen in Echtzeit beobachtet werden können. Sieben Institute in fünf europäischen Ländern beteiligen sich über die nächsten vier Jahre an diesem technologisch anspruchsvollen Projekt.

Die zukünftigen Einsatzmöglichkeiten des neu zu entwickelnden und nur wenige Millimeter großen Mikroskops sind äußerst vielfältig. Die Projektpartner haben...

Im Focus: A Challenging European Research Project to Develop New Tiny Microscopes

The Institute of Semiconductor Technology and the Institute of Physical and Theoretical Chemistry, both members of the Laboratory for Emerging Nanometrology (LENA), at Technische Universität Braunschweig are partners in a new European research project entitled ChipScope, which aims to develop a completely new and extremely small optical microscope capable of observing the interior of living cells in real time. A consortium of 7 partners from 5 countries will tackle this issue with very ambitious objectives during a four-year research program.

To demonstrate the usefulness of this new scientific tool, at the end of the project the developed chip-sized microscope will be used to observe in real-time...

Im Focus: Das anwachsende Ende der Ordnung

Physiker aus Konstanz weisen sogenannte Mermin-Wagner-Fluktuationen experimentell nach

Ein Kristall besteht aus perfekt angeordneten Teilchen, aus einer lückenlos symmetrischen Atomstruktur – dies besagt die klassische Definition aus der Physik....

Im Focus: Wegweisende Erkenntnisse für die Biomedizin: NAD⁺ hilft bei Reparatur geschädigter Erbinformationen

Eine internationale Forschergruppe mit dem Bayreuther Biochemiker Prof. Dr. Clemens Steegborn präsentiert in 'Science' neue, für die Biomedizin wegweisende Forschungsergebnisse zur Rolle des Moleküls NAD⁺ bei der Korrektur von Schäden am Erbgut.

Die Zellen von Menschen und Tieren können Schäden an der DNA, dem Träger der Erbinformation, bis zu einem gewissen Umfang selbst reparieren. Diese Fähigkeit...

Alle Focus-News des Innovations-reports >>>

Anzeige

Anzeige

IHR
JOB & KARRIERE
SERVICE
im innovations-report
in Kooperation mit academics
Veranstaltungen

Industriearbeitskreis »Prozesskontrolle in der Lasermaterialbearbeitung ICPC« lädt nach Aachen ein

28.03.2017 | Veranstaltungen

Neue Methoden für zuverlässige Mikroelektronik: Internationale Experten treffen sich in Halle

28.03.2017 | Veranstaltungen

Wie Menschen wachsen

27.03.2017 | Veranstaltungen

 
VideoLinks
B2B-VideoLinks
Weitere VideoLinks >>>
Aktuelle Beiträge

Organisch-anorganische Heterostrukturen mit programmierbaren elektronischen Eigenschaften

29.03.2017 | Energie und Elektrotechnik

Klein bestimmt über groß?

29.03.2017 | Physik Astronomie

OLED-Produktionsanlage aus einer Hand

29.03.2017 | Messenachrichten