Untersuchung mit Licht als Werkzeug-neue Plattform zur berührungslosen bildgebenden Materialanalyse

Aluminiumoxid-Dünnschicht einer 10 cm breiten Stahlprobe; links: visuelles Bild, rechts: berechnete Schichtdickenverteilung © Fraunhofer IWS Dresden

Besuchen Sie uns auf der Messe Sensor+Test (10.-12.5.2016) in Nürnberg auf dem Fraunhofer-Gemeinschaftsstand Halle 5, Stand 248.

Optische Technologien zählen zu den Schlüsseltechnologien des 21. Jahrhunderts. Die optische Sensorik vereint dabei Schnelligkeit mit Selektivität und die berührungslose Materialuntersuchung erlangt durch effiziente Systeme immer neue Einsatzbereiche. Die sogenannte hyperspektrale Bildgebung (HSI, engl. Hyperspectral Imaging) ist der aktuelle Treiber dieser Entwicklung.

Das Monitoring-Werkzeug »HSI« steht für Schnelligkeit und Präzision. Neue innovative Verfahren zur Datenauswertung verkürzen die Prozessketten, reduzieren Herstellungskosten, erhöhen die Durchsatzraten in der Produktion, verbessern die Effizienz und Güte von Fertigungsprozessen und Produkten. Auf der Messe wird dabei ein Einblick in eine Vielzahl von Anwendungsbeispielen gegeben.

Die hyperspektrale Bildgebung gehört zu den bekanntesten bildgebenden, spektroskopischen Methoden und ist in der Massenproduktion durch die mögliche 100%-Untersuchung eine aufkommende Alternative zu konventionellen Einzelpunktuntersuchungen. Das HSI als berührungslose sowie flexibel einsetzbare Qualitätsbewertung bietet hervorragende Möglichkeiten zur Datenbewertung und führt zu einer hohen Automatisierbarkeit.

Mit der jetzt neu veröffentlichten Software-Plattform imanto® pro in der Version 3.0 er-halten Anwender eine einfache und exzellente Ausgangsbasis hyperspektrale Daten auf-zunehmen, zu interpretieren und für die Nutzung aufzubereiten.

Übrigens bietet das Fraunhofer IWS auch eine breite Basis, um maßgeschneiderte Mess-plätze für einzelne Anwendungen zu entwickeln. Maßgeblich wurden in den letzten Jahren technische Entwicklungen zur Untersuchung dünner Schichten und Schichtsysteme vorangetrieben. Aus den optisch gewonnenen Messdaten können Aussagen zu Schichtdicken, Brechungsindizes und – bei leitfähigen Schichten – auch zum Schichtwiderstand getroffen werden.

Darüber hinaus sind auch viele Aussagen aus den ortsaufgelösten, spektralen Daten ab-leitbar, die nicht auf den ersten Blick ersichtlich sind. Z. B. können Prozessparameter aus Rolle-zu-Rolle-Verfahren ermittelt werden, die spätere Haftfestigkeit von beschichteten Bauteilen berechnet werden, Barriereeigenschaften von Folien vorhergesagt, Oberflächenbeschaffenheit von Bauteilen analysiert oder Laserabtrag auf Folien bewertet werden.

Einsetzen können Sie das HSI aber auch zur Bewertung des Frischegrades von Nahrungsmitteln oder zum Sortieren von Kunststoffen oder Granulaten. Kommen Sie vorbei und diskutieren Sie mit uns auf der Messe Sensor+Test (10.-12.5.2016) in Nürnberg auf dem Fraunhofer-Gemeinschaftsstand Halle 5, Stand 248 Ihre Anwendung.

Das Fraunhofer IWS Dresden hat derartige Lösungen gemeinsam mit mehreren Unter-nehmen umgesetzt und damit die Effizienz von Produktionsverfahren und der Waren-/Produktkontrolle revolutioniert. Industriell von Interesse sind dabei insbesondere Inspektionsaufgaben, die auch heutzutage immer noch per Hand durchgeführt werden müssen oder bislang überhaupt nicht realisierbar sind.

Das HSI ist für viele Anwendungen ein nahezu ideales Werkzeug. Es ermöglicht, Untersuchungen vom Nanometer bis Metermaßstab durchzuführen und dies bei Bedarf auch sehr schnell. Die besonderen Entwicklungen am Fraunhofer IWS sind in vielen Anwendungsfällen der Schlüssel für Energie- und Materialeffizienz.

Ihre Ansprechpartner für weitere Informationen:

Fraunhofer-Institut für Werkstoff- und Strahltechnik IWS Dresden
01277 Dresden, Winterbergstr. 28

Dr. Philipp Wollmann
Telefon: +49 351 83391-3316
Fax: +49 351 83391-3300
E-Mail: philipp.wollmann@iws.fraunhofer.de

Presse und Öffentlichkeitsarbeit
Dr. Ralf Jäckel
Telefon: +49 351 83391-3444
Fax: +49 351 83391-3300
E-Mail: ralf.jaeckel@iws.fraunhofer.de

Internet:
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Dr. Ralf Jaeckel Fraunhofer-Institut für Werkstoff- und Strahltechnik IWS

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