Forum für Wissenschaft, Industrie und Wirtschaft

Hauptsponsoren:     3M 
Datenbankrecherche:

 

Maximale Fehlererkennung durch CAD-basierte hochauflösende µAXI

12.10.2009
phoenix|x-ray präsentiert auf der Productronica seine neue x|act -Technologie

Für eine größtmögliche Fehlererkennung bei der automatischen Röntgeninspektion (AXI) bestückter Leiterplatten sind kleine Bildausschnitte mit Mikrometerauflösung, 360° Rotation, bis zu 70° Schrägdurchstrahlung, höchste Anfahrgenauigkeit von wenigen Mikrometern sowie eine zuverlässige Wiederholbarkeit unbedingt notwendig.


Der phoenix|x-ray microme|x mit x|act für hochauflösende Zero-Defect-Röntgeninspektion


nanoCT„¥ eines Packages mit gestapelten Chips

Doch bei der konventionellen, inline durchgeführten AXI wird die Inspektionstiefe normalerweise von der Durchsatzrate der SMT-Linie bestimmt. Gerade bei einem hohen Mix an kleinen Serien kann daher ein offline eingesetztes hochauflösendes µAXI-System, das die oben genannten Qualitätskriterien erfüllt, oft die bessere Wahl sein. Auf der diesjährigen Productronica präsentiert die Produktlinie phoenix|x-ray von GE Sensing & Inspection Technologies seine x|act-Technologie für eine einfache und intuitive CAD-basierte µAXI mit sehr hoher Vergrößerung und daher vergleichsweise geringer Schlupf- und Pseudofehlerrate.

x|act: einfach und schnell dank CAD-Programmierung

Um die Programmierzeit zu minimieren, importiert x|act die CAD-Daten der bestückten Leiterplatte und erstellt daraus ein Modell, das einerseits als Übersichtskarte zur einfachen Navigation dient, andererseits eine Zuweisung von Prüfstrategien für die einzelnen zu inspizierenden Bauteile ermöglicht. Prüfstrategien mit allen zur Inspektion notwendigen Informationen sind für viele gängigen Lötstellentypen bereits in einer Bibliothek vorhanden. Nach der Zuweisung der Prüfstrategien werden die erforderlichen Ansichten und das Prüfprogramm automatisch erstellt.

Dank der CAD-basierten Programmierung sind alle Programmierschritte offline an einem separaten Arbeitsplatz durchführbar. Damit wird das Inspektionssystem nicht während der Programmierung blockiert und jedes Programm ist auf alle x|act-fähigen phoenix|x-ray Röntgensysteme übertragbar. Als Einblendung im Livebild sind die CAD-Informationen jederzeit und bei jedem Betrachtungswinkel zu sehen. Dies ermöglicht auch bei manueller Inspektion immer eine schnelle und exakte Zuordnung der Lötstelle.

µAXI-fähige Systeme

Auf der Productronica präsentiert phoenix|x-ray seine x|act Inspektionstechnologie sowohl auf nanome|x als auch auf microme|x Röntgeninspektionssystemen. Die Geräte verfügen standardmäßig über eine offene nanofocus bzw. mikrofocus-Röntgenröhre mit 180 kV maximaler Röhrenspannung und 15 bzw. 20 W maximaler Leistung, die eine Detailerkennbarkeit von bis zu 200 Nanometern beim nanome|x und bis zu 0,5 Mikrometer beim microme|x ermöglicht. Durch die maximal anlegbare hohe Röhrenspannung und Leistung wird sichergestellt, dass auch hoch absorbierende Teile wie z.B. Kühlkörper auf PCBs durchstrahlt werden können. Die Manipulation der Probe erfolgt über eine kalibrierte, synchronisierte 5-Achsen-CNC mit extrem hoher Wiederholgenauigkeit.

Zusatznutzen der microme|x und nanome|x Systeme durch Computertomographie

Ein weiterer Vorteil einer offline Prüfung ist, dass das Röntgensystem abseits der Fertigungslinie und damit ohne Störung der Produktionslinie auch einfach zur manuellen Prüfung oder für 3D-Analysen von Bauteilen mittels Computertomographie (CT) genutzt werden kann. Dazu wird die Probe im Röntgenstrahl gedreht. Aus der so entstandenen Serie von 2D Durchleuchtungsbildern wird ein dreidimensionales Modell errechnet, das die zerstörungsfreie Unter¬suchung und dreidimensionale Visualisierung kleinerer Proben ermöglicht. Der mit x|act ausge¬stattete phoenix nanome|x erlaubt sogar extrem hochauflösende nanofocus Computer¬tomo¬graphie mit Voxelauflösungen von wenigen Mikrometern.

Weitere Messehighlights

Als ein weiteres Highlight präsentiert GE seinen neuen hochdynamischen temperaturstabilisierten DXR Digitaldetektor im phoenix nanome|x. Mit bis zu 30 fps (frames per second) gewährleistet er eine besonders rauscharme und brillante Bildqualität. Dank einer Detailerkennbarkeit von bis zu 200 Nanometern und einem optischen Zoom von bis zu 24.990fach eignet sich der phoenix nanome|x besonders für hochauflösende 2D und nanoCT-Untersuchungen hochwertiger Aufbau- und Verbindungstechnik in der Halbleiter- und SMT-Industrie.

Zusätzlich stellt GE mit dem phoenix nanotom das weltweit erste 180 kV nanofocus CT-System für besonders hochauflösende 3D-Untersuchungen elektronischer Bauteile und Baugruppen mit Submikrometer-Voxelauflösungen vor. Dank Hard- und Softwareinnovationen wie velo|CT und fast|scan ist es nun möglich, im produktionsnahen Einsatz aussagekräftige CT-Ergebnisse bereits innerhalb weniger Minuten zu erzielen.

Für Leseranfragen:
GE Sensing & Inspection Technologies GmbH
phoenix|x-ray
Niels-Bohr-Str. 7
31515 Wunstorf
Tel.: +49 5031 172-0
Fax.: +49 5031 172-299
phoenix-info@ge.com
Pressekontakt:
Dr. Dirk Neuber
GE Sensing & Inspection Technologies GmbH
+49 5031 172 124
dirk.neuber@ge.com

Dr. Dirk Neuber | phoenix|x-ray
Weitere Informationen:
http://www.phoenix-xray.com

Weitere Nachrichten aus der Kategorie Messenachrichten:

nachricht Intelligente Sensoren mit System
29.05.2017 | Technische Universität Chemnitz

nachricht Optisches Messverfahren für Zellanalysen in Echtzeit - Ulmer Physiker auf der Messe "Sensor+Test"
24.05.2017 | Universität Ulm

Alle Nachrichten aus der Kategorie: Messenachrichten >>>

Die aktuellsten Pressemeldungen zum Suchbegriff Innovation >>>

Die letzten 5 Focus-News des innovations-reports im Überblick:

Im Focus: Neue Methode für die Datenübertragung mit Licht

Der steigende Bedarf an schneller, leistungsfähiger Datenübertragung erfordert die Entwicklung neuer Verfahren zur verlustarmen und störungsfreien Übermittlung von optischen Informationssignalen. Wissenschaftler der Universität Johannesburg, des Instituts für Angewandte Optik der Friedrich-Schiller-Universität Jena und des Leibniz-Instituts für Photonische Technologien Jena (Leibniz-IPHT) präsentieren im Fachblatt „Journal of Optics“ eine neue Möglichkeit, glasfaserbasierte und kabellose optische Datenübertragung effizient miteinander zu verbinden.

Dank des Internets können wir in Sekundenbruchteilen mit Menschen rund um den Globus in Kontakt treten. Damit die Kommunikation reibungslos funktioniert,...

Im Focus: Strathclyde-led research develops world's highest gain high-power laser amplifier

The world's highest gain high power laser amplifier - by many orders of magnitude - has been developed in research led at the University of Strathclyde.

The researchers demonstrated the feasibility of using plasma to amplify short laser pulses of picojoule-level energy up to 100 millijoules, which is a 'gain'...

Im Focus: Lässt sich mit Boten-RNA das Immunsystem gegen Staphylococcus aureus scharf schalten?

Staphylococcus aureus ist aufgrund häufiger Resistenzen gegenüber vielen Antibiotika ein gefürchteter Erreger (MRSA) insbesondere bei Krankenhaus-Infektionen. Forscher des Paul-Ehrlich-Instituts haben immunologische Prozesse identifiziert, die eine erfolgreiche körpereigene, gegen den Erreger gerichtete Abwehr verhindern. Die Forscher konnten zeigen, dass sich durch Übertragung von Protein oder Boten-RNA (mRNA, messenger RNA) des Erregers auf Immunzellen die Immunantwort in Richtung einer aktiven Erregerabwehr verschieben lässt. Dies könnte für die Entwicklung eines wirksamen Impfstoffs bedeutsam sein. Darüber berichtet PLOS Pathogens in seiner Online-Ausgabe vom 25.05.2017.

Staphylococcus aureus (S. aureus) ist ein Bakterium, das bei weit über der Hälfte der Erwachsenen Haut und Schleimhäute besiedelt und dabei normalerweise keine...

Im Focus: Can the immune system be boosted against Staphylococcus aureus by delivery of messenger RNA?

Staphylococcus aureus is a feared pathogen (MRSA, multi-resistant S. aureus) due to frequent resistances against many antibiotics, especially in hospital infections. Researchers at the Paul-Ehrlich-Institut have identified immunological processes that prevent a successful immune response directed against the pathogenic agent. The delivery of bacterial proteins with RNA adjuvant or messenger RNA (mRNA) into immune cells allows the re-direction of the immune response towards an active defense against S. aureus. This could be of significant importance for the development of an effective vaccine. PLOS Pathogens has published these research results online on 25 May 2017.

Staphylococcus aureus (S. aureus) is a bacterium that colonizes by far more than half of the skin and the mucosa of adults, usually without causing infections....

Im Focus: Orientierungslauf im Mikrokosmos

Physiker der Universität Würzburg können auf Knopfdruck einzelne Lichtteilchen erzeugen, die einander ähneln wie ein Ei dem anderen. Zwei neue Studien zeigen nun, welches Potenzial diese Methode hat.

Der Quantencomputer beflügelt seit Jahrzehnten die Phantasie der Wissenschaftler: Er beruht auf grundlegend anderen Phänomenen als ein herkömmlicher Rechner....

Alle Focus-News des Innovations-reports >>>

Anzeige

Anzeige

IHR
JOB & KARRIERE
SERVICE
im innovations-report
in Kooperation mit academics
Veranstaltungen

Lebensdauer alternder Brücken - prüfen und vorausschauen

29.05.2017 | Veranstaltungen

49. eucen-Konferenz zum Thema Lebenslanges Lernen an Universitäten

29.05.2017 | Veranstaltungen

Internationale Konferenz an der Schnittstelle von Literatur, Kultur und Wirtschaft

29.05.2017 | Veranstaltungen

 
VideoLinks
B2B-VideoLinks
Weitere VideoLinks >>>
Aktuelle Beiträge

Intelligente Sensoren mit System

29.05.2017 | Messenachrichten

Geckos kommunizieren überraschend flexibel

29.05.2017 | Biowissenschaften Chemie

1,5 Millionen Euro für vier neue „Innovative Training Networks” an der Universität Hamburg

29.05.2017 | Förderungen Preise