Forum für Wissenschaft, Industrie und Wirtschaft

Hauptsponsoren:     3M 
Datenbankrecherche:

 

Maximale Fehlererkennung durch CAD-basierte hochauflösende µAXI

12.10.2009
phoenix|x-ray präsentiert auf der Productronica seine neue x|act -Technologie

Für eine größtmögliche Fehlererkennung bei der automatischen Röntgeninspektion (AXI) bestückter Leiterplatten sind kleine Bildausschnitte mit Mikrometerauflösung, 360° Rotation, bis zu 70° Schrägdurchstrahlung, höchste Anfahrgenauigkeit von wenigen Mikrometern sowie eine zuverlässige Wiederholbarkeit unbedingt notwendig.


Der phoenix|x-ray microme|x mit x|act für hochauflösende Zero-Defect-Röntgeninspektion


nanoCT„¥ eines Packages mit gestapelten Chips

Doch bei der konventionellen, inline durchgeführten AXI wird die Inspektionstiefe normalerweise von der Durchsatzrate der SMT-Linie bestimmt. Gerade bei einem hohen Mix an kleinen Serien kann daher ein offline eingesetztes hochauflösendes µAXI-System, das die oben genannten Qualitätskriterien erfüllt, oft die bessere Wahl sein. Auf der diesjährigen Productronica präsentiert die Produktlinie phoenix|x-ray von GE Sensing & Inspection Technologies seine x|act-Technologie für eine einfache und intuitive CAD-basierte µAXI mit sehr hoher Vergrößerung und daher vergleichsweise geringer Schlupf- und Pseudofehlerrate.

x|act: einfach und schnell dank CAD-Programmierung

Um die Programmierzeit zu minimieren, importiert x|act die CAD-Daten der bestückten Leiterplatte und erstellt daraus ein Modell, das einerseits als Übersichtskarte zur einfachen Navigation dient, andererseits eine Zuweisung von Prüfstrategien für die einzelnen zu inspizierenden Bauteile ermöglicht. Prüfstrategien mit allen zur Inspektion notwendigen Informationen sind für viele gängigen Lötstellentypen bereits in einer Bibliothek vorhanden. Nach der Zuweisung der Prüfstrategien werden die erforderlichen Ansichten und das Prüfprogramm automatisch erstellt.

Dank der CAD-basierten Programmierung sind alle Programmierschritte offline an einem separaten Arbeitsplatz durchführbar. Damit wird das Inspektionssystem nicht während der Programmierung blockiert und jedes Programm ist auf alle x|act-fähigen phoenix|x-ray Röntgensysteme übertragbar. Als Einblendung im Livebild sind die CAD-Informationen jederzeit und bei jedem Betrachtungswinkel zu sehen. Dies ermöglicht auch bei manueller Inspektion immer eine schnelle und exakte Zuordnung der Lötstelle.

µAXI-fähige Systeme

Auf der Productronica präsentiert phoenix|x-ray seine x|act Inspektionstechnologie sowohl auf nanome|x als auch auf microme|x Röntgeninspektionssystemen. Die Geräte verfügen standardmäßig über eine offene nanofocus bzw. mikrofocus-Röntgenröhre mit 180 kV maximaler Röhrenspannung und 15 bzw. 20 W maximaler Leistung, die eine Detailerkennbarkeit von bis zu 200 Nanometern beim nanome|x und bis zu 0,5 Mikrometer beim microme|x ermöglicht. Durch die maximal anlegbare hohe Röhrenspannung und Leistung wird sichergestellt, dass auch hoch absorbierende Teile wie z.B. Kühlkörper auf PCBs durchstrahlt werden können. Die Manipulation der Probe erfolgt über eine kalibrierte, synchronisierte 5-Achsen-CNC mit extrem hoher Wiederholgenauigkeit.

Zusatznutzen der microme|x und nanome|x Systeme durch Computertomographie

Ein weiterer Vorteil einer offline Prüfung ist, dass das Röntgensystem abseits der Fertigungslinie und damit ohne Störung der Produktionslinie auch einfach zur manuellen Prüfung oder für 3D-Analysen von Bauteilen mittels Computertomographie (CT) genutzt werden kann. Dazu wird die Probe im Röntgenstrahl gedreht. Aus der so entstandenen Serie von 2D Durchleuchtungsbildern wird ein dreidimensionales Modell errechnet, das die zerstörungsfreie Unter¬suchung und dreidimensionale Visualisierung kleinerer Proben ermöglicht. Der mit x|act ausge¬stattete phoenix nanome|x erlaubt sogar extrem hochauflösende nanofocus Computer¬tomo¬graphie mit Voxelauflösungen von wenigen Mikrometern.

Weitere Messehighlights

Als ein weiteres Highlight präsentiert GE seinen neuen hochdynamischen temperaturstabilisierten DXR Digitaldetektor im phoenix nanome|x. Mit bis zu 30 fps (frames per second) gewährleistet er eine besonders rauscharme und brillante Bildqualität. Dank einer Detailerkennbarkeit von bis zu 200 Nanometern und einem optischen Zoom von bis zu 24.990fach eignet sich der phoenix nanome|x besonders für hochauflösende 2D und nanoCT-Untersuchungen hochwertiger Aufbau- und Verbindungstechnik in der Halbleiter- und SMT-Industrie.

Zusätzlich stellt GE mit dem phoenix nanotom das weltweit erste 180 kV nanofocus CT-System für besonders hochauflösende 3D-Untersuchungen elektronischer Bauteile und Baugruppen mit Submikrometer-Voxelauflösungen vor. Dank Hard- und Softwareinnovationen wie velo|CT und fast|scan ist es nun möglich, im produktionsnahen Einsatz aussagekräftige CT-Ergebnisse bereits innerhalb weniger Minuten zu erzielen.

Für Leseranfragen:
GE Sensing & Inspection Technologies GmbH
phoenix|x-ray
Niels-Bohr-Str. 7
31515 Wunstorf
Tel.: +49 5031 172-0
Fax.: +49 5031 172-299
phoenix-info@ge.com
Pressekontakt:
Dr. Dirk Neuber
GE Sensing & Inspection Technologies GmbH
+49 5031 172 124
dirk.neuber@ge.com

Dr. Dirk Neuber | phoenix|x-ray
Weitere Informationen:
http://www.phoenix-xray.com

Weitere Nachrichten aus der Kategorie Messenachrichten:

nachricht SYSTEMS INTEGRATION 2018 in der Schweiz thematisiert Bausteine für die industrielle Digitalisierung
20.11.2017 | IVAM Fachverband für Mikrotechnik

nachricht IHP präsentiert sich auf der productronica 2017
17.11.2017 | IHP - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik

Alle Nachrichten aus der Kategorie: Messenachrichten >>>

Die aktuellsten Pressemeldungen zum Suchbegriff Innovation >>>

Die letzten 5 Focus-News des innovations-reports im Überblick:

Im Focus: Transparente Beschichtung für Alltagsanwendungen

Sport- und Outdoorbekleidung, die Wasser und Schmutz abweist, oder Windschutzscheiben, an denen kein Wasser kondensiert – viele alltägliche Produkte können von stark wasserabweisenden Beschichtungen profitieren. Am Karlsruher Institut für Technologie (KIT) haben Forscher um Dr. Bastian E. Rapp einen Werkstoff für solche Beschichtungen entwickelt, der sowohl transparent als auch abriebfest ist: „Fluoropor“, einen fluorierten Polymerschaum mit durchgehender Nano-/Mikrostruktur. Sie stellen ihn in Nature Scientific Reports vor. (DOI: 10.1038/s41598-017-15287-8)

In der Natur ist das Phänomen vor allem bei Lotuspflanzen bekannt: Wassertropfen perlen von der Blattoberfläche einfach ab. Diesen Lotuseffekt ahmen...

Im Focus: Ultrakalte chemische Prozesse: Physikern gelingt beispiellose Vermessung auf Quantenniveau

Wissenschaftler um den Ulmer Physikprofessor Johannes Hecker Denschlag haben chemische Prozesse mit einer beispiellosen Auflösung auf Quantenniveau vermessen. Bei ihrer wissenschaftlichen Arbeit kombinierten die Forscher Theorie und Experiment und können so erstmals die Produktzustandsverteilung über alle Quantenzustände hinweg - unmittelbar nach der Molekülbildung - nachvollziehen. Die Forscher haben ihre Erkenntnisse in der renommierten Fachzeitschrift "Science" publiziert. Durch die Ergebnisse wird ein tieferes Verständnis zunehmend komplexer chemischer Reaktionen möglich, das zukünftig genutzt werden kann, um Reaktionsprozesse auf Quantenniveau zu steuern.

Einer deutsch-amerikanischen Forschergruppe ist es gelungen, chemische Prozesse mit einer nie dagewesenen Auflösung auf Quantenniveau zu vermessen. Dadurch...

Im Focus: Leoniden 2017: Sternschnuppen im Anflug?

Gemeinsame Pressemitteilung der Vereinigung der Sternfreunde und des Hauses der Astronomie in Heidelberg

Die Sternschnuppen der Leoniden sind in diesem Jahr gut zu beobachten, da kein Mondlicht stört. Experten sagen für die Nächte vom 16. auf den 17. und vom 17....

Im Focus: «Kosmische Schlange» lässt die Struktur von fernen Galaxien erkennen

Die Entstehung von Sternen in fernen Galaxien ist noch weitgehend unerforscht. Astronomen der Universität Genf konnten nun erstmals ein sechs Milliarden Lichtjahre entferntes Sternensystem genauer beobachten – und damit frühere Simulationen der Universität Zürich stützen. Ein spezieller Effekt ermöglicht mehrfach reflektierte Bilder, die sich wie eine Schlange durch den Kosmos ziehen.

Heute wissen Astronomen ziemlich genau, wie sich Sterne in der jüngsten kosmischen Vergangenheit gebildet haben. Aber gelten diese Gesetzmässigkeiten auch für...

Im Focus: A “cosmic snake” reveals the structure of remote galaxies

The formation of stars in distant galaxies is still largely unexplored. For the first time, astron-omers at the University of Geneva have now been able to closely observe a star system six billion light-years away. In doing so, they are confirming earlier simulations made by the University of Zurich. One special effect is made possible by the multiple reflections of images that run through the cosmos like a snake.

Today, astronomers have a pretty accurate idea of how stars were formed in the recent cosmic past. But do these laws also apply to older galaxies? For around a...

Alle Focus-News des Innovations-reports >>>

Anzeige

Anzeige

IHR
JOB & KARRIERE
SERVICE
im innovations-report
in Kooperation mit academics
Veranstaltungen

500 Kommunikatoren zu Gast in Braunschweig

20.11.2017 | Veranstaltungen

VDI-Expertenforum „Gefährdungsanalyse Trinkwasser"

20.11.2017 | Veranstaltungen

Technologievorsprung durch Textiltechnik

17.11.2017 | Veranstaltungen

 
VideoLinks
B2B-VideoLinks
Weitere VideoLinks >>>
Aktuelle Beiträge

Künstliche neuronale Netze: 5-Achs-Fräsbearbeitung lernt, sich selbst zu optimieren

20.11.2017 | Informationstechnologie

Tonmineral bewässert Erdmantel von innen

20.11.2017 | Geowissenschaften

Hemmung von microRNA-29 schützt vor Herzfibrosen

20.11.2017 | Biowissenschaften Chemie