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Neue Systeme zur Partikelcharakterisierung

13.07.2005



Auf der Powtech 2005 (Nürnberg, 11.-13.Oktober, 2005). wird Malvern Instruments ein neues Gerät zur Partikelgrößen und Partikelformbestimmung auf der Basis der Bildanalyse vorstellen. Das System wird neben anderen neuen Produkten, und den Flagschiffen aus Malvern’s umfassendem Portfolio der Rheometer, Viskosimeter, inline, online und atline Partikelanalysegeräten und selbstverständlich den Laborgeräten zur Partikelcharakterisierung zu sehen sein.


Die Breite der Malvern Produktpalette macht es nun möglich, Anwendungen zur umfassenden Materialcharakterisierung in allen Industriezweigen und im universitären Bereich zu unterstützen, von der Messung im Labor bis hin zur In-Prozessanalyse in der Produktion.

Die Anzahl an Untersuchungen über die Zusammenhänge zwischen Partikelcharakteristika und Bulkeigenschaften von Materialien, wie dem rheologischen Verhalten, und dadurch das Verständnis für die Zusammenhänge und die Interpretation des gegenseitigen Einflusses dieser Parameter wächst kontinuierlich. Aus diesem Grund gewinnt die Tatsache, dass für beide Technologien Instrumente zur Verfügung gestellt werden können und insbesondere dass für beide Technologien technischer Support und Anwendungsunterstützung von Spezialisten, die beide Technologien und deren Zusammenhänge verstehen, angeboten werden kann, immer mehr an Bedeutung.


Weitere Highlights neben den neuen Produkten von Malvern werden auf dem Stand das kürzlich eingeführte Insitec APS atline Partikelanalysesystem zur Anwendung in im Prozess, das in der Industrie führende Laserbeugungsgerät Mastersizer 2000 und der preisgekrönte Zetasizer Nano zur Bestimmung von Nano-Partikeln und Molekülen sein.

Während der gesamten Messe steht Ihnen das technische Team von Malvern zur Verfügung, um Ihre persönlichen Aufgabenstellungen in der Materialcharakterisierung zu diskutieren.

Renate Hessemann | Malvern
Weitere Informationen:
http://www.malvern.de

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