Schnittstelle erstmals bei Pilotkunden installiert

Die Schnittstelle für den Proben- und Bildtransfer zwischen Licht- und Elektronenmikroskop verbindet aufrechte und inverse Lichtmikroskope vom Typ Stereo Discovery, Axio Imager und Axio Observer mit motorisiertem Tisch mit den firmeneigenen Rasterelektronenmikroskopen und Workstations.

Schnittstelle relokalisiert „region-of-interest“

Ihre Hauptaufgabe ist es, die im Lichtmikroskop markierte „region-of-interest“ im Elektronenmikroskop zu relokalisieren. Auch der umgekehrte Weg ist möglich, um eine im Elektronenmikroskop gefundene interessante Probenstelle mit den Methoden der Lichtmikroskopie zu untersuchen. Eine zusätzliche Option besteht in der Überlagerung der Bilder aus beiden Systemen.

Die Wissenschaftler des Institute of Materials and Process Engineering der Zürcher Hochschule für Angewandte Wissenschaften bearbeiten unter anderem die Aufgabe, das „ausferritische“ Gefüge eines Bainitischen Sphärogusses präzise zu beschreiben und Ausscheidungen sowie Materialeinschlüsse zu analysieren.

Christof Scherrer, wissenschaftlicher Mitarbeiter, erläutert: „Gerade bei großen Schliffproben mit Gefügebestandteilen im Mikrometerbereich macht es die korrelative Mikroskopie überhaupt erst möglich, dieselben Stellen zweifelsfrei wiederzufinden.“ Das Material wird wegen seiner besonderen Eigenschaften wie Zugfestigkeit und Verschleißfestigkeit beispielsweise für Getriebe und Verbrennungsmotorkomponenten eingesetzt.

Verschiedene Unternehmensbereiche entwickeln gemeinsam

Die erstmals auf der Microscopy Conference in Graz Anfang September präsentierte Schnittstelle für die korrelative Mikroskopie in der Materialanalyse ist eine gemeinsame Entwicklung der Bereiche Lichtmikroskopie, Elektronenmikroskopie und der zentralen Forschung des Unternehmens.