Biometrie: Schnelle Identifikation von Katastrophenopfern

Wir alle haben die Bilder vom Tsunami von 2004 noch vor Augen und denken an das Erdbeben auf Haiti und die gewaltigen Überschwemmungen in Pakistan. Allen Ereignissen ist eine große Anzahl an Opfern gemein, deren Identifikation für die Angehörigen allzu oft eine quälend lange Zeit der Ungewissheit mit sich brachte.

„Eine rasche Identifizierung der Opfer wird von allen in Katastrophengebieten aktiven Hilfskräften gewünscht“, sagt Markus Müller vom Fraunhofer IOSB. „Durch modernste biometrische Bilderkennungsverfahren können wir hier einen deutlichen Schritt vorankommen.“

Fraunhofer IOSB und Fraunhofer IGD entwickeln in Zusammenarbeit mit dem Bundeskriminalamt, INTERPOL und weiteren Europäischen Partnern im EU-Forschungsprojekt „FAST and efficient international disaster victim IDentification (FASTID)“ ein Verfahren, das künftig mit Hilfe des über eine Person vorhandenen Bildmaterials eine schnelle Identifikation in Katastrophengebieten ermöglichen soll.

Angehörige liefern Bildmaterial, das vom Computer mit Aufnahmen der erfassten Opfer verglichen wird. Im Gegensatz zu Fingerabdrücken, DNA oder Gebiss-Status sind Personenbilder leichter verfügbar. Bei einer Übereinstimmung können dann weitere Identifikationsverfahren genutzt und auch die Angehörigen für eine abschließende Identifizierung gerufen werden.

„Die Herausforderung hierbei ist, eine gute Erkennungsleistung zu ermöglichen trotz entstellender Veränderungen der Opfer und qualitativ minderwertiger oder alter Fotos als Identifizierungsgrundlage“, erklärt Alexander Nouak vom Fraunhofer IGD. „Unser neuer Ansatz wird deshalb die etablierten Verfahren hauptsächlich ergänzen und nicht ersetzen.“

Die Forscher sind damit befasst, Standards zu definieren, die eine weltweit einheitliche und damit beschleunigte Verfahrensweise ermöglichen. Bei großen Katastrophen sind häufig Opfer und Helfer aus unterschiedlichen Nationen betroffen, so dass eine gemeinsame technische Basis essenziell ist.

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Konrad Baier Fraunhofer-Institut

Weitere Informationen:

http://www.igd.fraunhofer.de

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