Mikrooptischer Sensor eröffnet neue Chancen für die ophthalmologische Diagnostik
Hier arbeiten gemeinsam Partner aus Deutschland (CiS Institut für Mikrosensorik GmbH Erfurt), Österreich (Fachhochschule Kärnten und Carinthia Tech Research AG) und Norwegen (Haukeland Universitätsklinik Bergen) an der Verbesserung diagnostischer Methoden zur Untersuchung des Augenhintergrundes, insbesondere der oximetrischen Fundusdiagnostik.
Wesentlicher Bestandteil der technischen Lösung ist das mikrooptische Modul MORES®, welches alle wesentlichen Funktionen für den flexiblen Einsatz als leistungsfähiger 3-Farben-Reflexions-/Remission-Sensor mitbringt und zudem preisgünstig auf der Basis etablierter Siliziumtechnologien herstellbar ist. Die Forscher des CiS Institut für Mikrosensorik GmbH in Erfurt haben das einzusetzende Messprinzip bisher auf dem Gebiet der Photoplethysmographie in der Herz-Kreislauf-Diagnostik erfolgreich erprobt.
Der Gedanke, dieses Verfahren auch für die oximetrische Fundusdiagnostik zu nutzen, liegt nahe. Dabei spielen gerade Blutfluss und Sauerstoffversorgung des Augenhintergrundes eine zentrale Rolle. So sind Sauerstoffdefizite im Fundus einer der Hauptgründe für das Erblinden.
Nach den Erkenntnissen der Augenärzte der Haukeland Universitätsklinik erfolgt im klinischen Betrieb gegenwärtig keine Bestimmung der Sauerstoffsättigung im Augenhintergrund in Verbindung mit der Durchblutungsmessung.
So sind bei heutigen Messmethoden entweder die Platzierung von Sauerstoffelektroden im Auge als invasives Verfahren oder spektroskopische Untersuchungen erforderlich.
Der MORES®-Sensor bietet nach ersten Erkenntnissen im Gegensatz zu den bisher genutzten Verfahren die Möglichkeit, den retinalen Sauerstoffsättigungsgrad zu messen, insbesondere im Zusammenhang mit zentralen Netzhautverschlüssen.
Das internationale Forscherteam ist optimistisch und glaubt darüber hinaus, dass der Sensor in Zukunft zur diagnostischen Differenzierung verschiedener Augentumore eingesetzt werden kann und mehr Informationen über Melanome im Augenhintergrund liefern wird, als es mit bisherigen Methoden möglich ist.
Für weitere Informationen stehen wir Ihnen gern zur Verfügung oder besuchen Sie uns auf der electronica 2006, Neue Messe München, Halle A2, Stand 328.
Kontakt:
CiS Institut für Mikrosensorik GmbH
Dr. Dietmar Starke
Konrad-Zuse-Str. 14
99099 ERFURT
Tel. 0361-6631474
Fax 0361-6631423
E-Mail: dstarke@cismst.de
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