Forum für Wissenschaft, Industrie und Wirtschaft

Hauptsponsoren:     3M 
Datenbankrecherche:

 

Sicherer bügeln

06.11.2006
Ein beschädigter Wassertank an einem Bügeleisen kann einen elektrischen Kurzschluss verursachen - mit Verletzungen und Bränden als Folge. Dampfbügeleisen müssen deshalb einen Falltest bestehen. Dieser kann nun simuliert werden. Das spart Geld und Zeit.
Jedes Elektrogerät muss sie haben: die "CE"-Kennzeichnung. Das
Kürzel für Communauté Européenne bedeutet, dass das Gerät die gesetzlichen Anforderungen der EU erfüllt. In Deutschland bürgt zusätzlich die "GS"-Kennzeichnung für geprüfte Sicherheit, in den U.S.A. die "UL" Norm der Underwriter Laboratories.

Die verschiedenen Gütesiegel sind für die Entwicklungsingenieure eine echte Herausforderung: Bevor beispielsweise ein Bügeleisen auf den Markt kommt, muss der Hersteller aufwändige Tests durchführen: "Jeder Prototyp muss im Labor den Fall aus einem Meter Höhe auf eine Holzplatte sicherheitstechnisch unbeschadet überstehen", erklärt André Heinrietz vom Fraunhofer-Institut für Betriebsfestigkeit und Systemzuverlässigkeit LBF in Darmstadt. "Diese Untersuchungen waren bisher sehr aufwändig, da erst einmal ein Prototyp gebaut werden musste. Jede Änderung wegen eines nicht bestandenen Falltests zog hohe Kosten für Anpassungen an der sehr komplexen Spritzgussform nach sich."

Zusammen mit einem Hersteller von Haushaltsgeräten haben die Fraunhofer-Forscher jetzt ein Simulationsmodell entwickelt, mit dem sich dieser Drop-Test bereits im Planungsstadium durchführen lässt - lange bevor der erste Prototyp gebaut ist. Ein solches Simulationswerkzeug ist für die Hersteller freilich nur dann von Nutzen, wenn es die Realität exakt darstellt. Um zu prüfen, ob der virtuelle und der tatsächliche Drop-Test die gleichen Ergebnisse liefern, untersuchten die Ingenieure die dynamischen Abläufe im Innern des Bügeleisens beim Fall von einem Bügelbrett. Das Ergebnis: Die Risse traten sowohl bei den realen als auch bei den simulierten Drop-Tests an der selben Stelle auf, nämlich zwischen Heckdeckel und Tank. Die Simulation lieferte zusätzlich noch den exakten Schädigungsverlauf: Zuerst reißt ein Haltezapfen des Deckels, dieser verschiebt sich, wodurch hohe Kräfte auf die Verschraubungen auftreten. Die Folge sind Risse in der Tankwand.

... mehr zu:
»Bügeleisen »Drop-Test »Falltest »Tank

Dank der Simulationsergebnisse konnten die Ingenieure einen neuen Deckel konstruieren: "Eine minimale Änderung in der Geometrie verändert den Kraftfluss und hat zur Folge, dass kein Wasseraustritt im Bereich des Tanks zu erwarten ist", erklärt André Heinrietz. Mit diesen "Computer Aided" Methoden konnten die Forscher Änderungen an der sehr komplexen Spritzgussform vermeiden und Kosten sparen. "Dadurch bringen wir künftig Design, Funktion und Betriebssicherheit von Bügeleisen unter einen Hut".

Marion Horn | Fraunhofer-Gesellschaft
Weitere Informationen:
http://www.fraunhofer.de
http://www.fraunhofer.de/fhg/press/pi/2006/11/Mediendienst112006Thema3.jsp

Weitere Berichte zu: Bügeleisen Drop-Test Falltest Tank

Weitere Nachrichten aus der Kategorie Energie und Elektrotechnik:

nachricht Energieproduzierende Fenster stehen kurz bevor
23.02.2017 | University of Minnesota / Università degli Studi di Milano-Bicocca

nachricht Hauchdünn wie ein Atom: Ein revolutionärer Halbleiter für die Elektronik
23.02.2017 | Universität Bayreuth

Alle Nachrichten aus der Kategorie: Energie und Elektrotechnik >>>

Die aktuellsten Pressemeldungen zum Suchbegriff Innovation >>>

Die letzten 5 Focus-News des innovations-reports im Überblick:

Im Focus: „Vernetzte Autonome Systeme“ von acatech und DFKI auf der CeBIT

Auf der IT-Messe CeBIT vom 20. bis 24. März präsentieren acatech – Deutsche Akademie der Technikwissenschaften und das Deutsche Forschungszentrum für Künstliche Intelligenz (DFKI) in Kooperation mit der Deutschen Messe AG vernetzte Autonome Systeme. In Halle 12 am Stand B 63 erwarten die Besucherinnen und Besucher unter anderem Roboter, die Hand in Hand mit Menschen zusammenarbeiten oder die selbstständig gefährliche Umgebungen erkunden.

Auf der IT-Messe CeBIT vom 20. bis 24. März präsentieren acatech – Deutsche Akademie der Technikwissenschaften und das Deutsche Forschungszentrum für...

Im Focus: Kühler Zwerg und die sieben Planeten

Erdgroße Planeten mit gemäßigtem Klima in System mit ungewöhnlich vielen Planeten entdeckt

In einer Entfernung von nur 40 Lichtjahren haben Astronomen ein System aus sieben erdgroßen Planeten entdeckt. Alle Planeten wurden unter Verwendung von boden-...

Im Focus: Mehr Sicherheit für Flugzeuge

Zwei Entwicklungen am Lehrgebiet Rechnerarchitektur der FernUniversität in Hagen können das Fliegen sicherer machen: ein Flugassistenzsystem, das bei einem totalen Triebwerksausfall zum Einsatz kommt, um den Piloten ein sicheres Gleiten zu einem Notlandeplatz zu ermöglichen, und ein Assistenzsystem für Segelflieger, das ihnen das Erreichen größerer Höhen erleichtert. Präsentiert werden sie von Prof. Dr.-Ing. Wolfram Schiffmann auf der Internationalen Fachmesse für Allgemeine Luftfahrt AERO vom 5. bis 8. April in Friedrichshafen.

Zwei Entwicklungen am Lehrgebiet Rechnerarchitektur der FernUniversität in Hagen können das Fliegen sicherer machen: ein Flugassistenzsystem, das bei einem...

Im Focus: HIGH-TOOL unterstützt Verkehrsplanung in Europa

Forschung am Karlsruher Institut für Technologie (KIT) unterstützt die Europäische Kommission bei der Verkehrsplanung: Anhand des neuen Modells HIGH-TOOL lässt sich bewerten, wie verkehrspolitische Maßnahmen langfristig auf Wirtschaft, Gesellschaft und Umwelt wirken. HIGH-TOOL ist ein frei zugängliches Modell mit Modulen für Demografie, Wirtschaft und Ressourcen, Fahrzeugbestand, Nachfrage im Personen- und Güterverkehr sowie Umwelt und Sicherheit. An dem nun erfolgreich abgeschlossenen EU-Projekt unter der Koordination des KIT waren acht Partner aus fünf Ländern beteiligt.

Forschung am Karlsruher Institut für Technologie (KIT) unterstützt die Europäische Kommission bei der Verkehrsplanung: Anhand des neuen Modells HIGH-TOOL lässt...

Im Focus: Zinn in der Photodiode: nächster Schritt zur optischen On-Chip-Datenübertragung

Schon lange suchen Wissenschaftler nach einer geeigneten Lösung, um optische Komponenten auf einem Computerchip zu integrieren. Doch Silizium und Germanium allein – die stoffliche Basis der Chip-Produktion – sind als Lichtquelle kaum geeignet. Jülicher Physiker haben nun gemeinsam mit internationalen Partnern eine Diode vorgestellt, die neben Silizium und Germanium zusätzlich Zinn enthält, um die optischen Eigenschaften zu verbessern. Das Besondere daran: Da alle Elemente der vierten Hauptgruppe angehören, sind sie mit der bestehenden Silizium-Technologie voll kompatibel.

Schon lange suchen Wissenschaftler nach einer geeigneten Lösung, um optische Komponenten auf einem Computerchip zu integrieren. Doch Silizium und Germanium...

Alle Focus-News des Innovations-reports >>>

Anzeige

Anzeige

IHR
JOB & KARRIERE
SERVICE
im innovations-report
in Kooperation mit academics
Veranstaltungen

Aufbruch: Forschungsmethoden in einer personalisierten Medizin

24.02.2017 | Veranstaltungen

Österreich erzeugt erstmals Erdgas aus Sonnen- und Windenergie

24.02.2017 | Veranstaltungen

Big Data Centrum Ostbayern-Südböhmen startet Veranstaltungsreihe

23.02.2017 | Veranstaltungen

 
VideoLinks
B2B-VideoLinks
Weitere VideoLinks >>>
Aktuelle Beiträge

Fraunhofer HHI auf dem Mobile World Congress mit VR- und 5G-Technologien

24.02.2017 | Messenachrichten

MWC 2017: 5G-Hauptstadt Berlin

24.02.2017 | Messenachrichten

Auf der molekularen Streckbank

24.02.2017 | Biowissenschaften Chemie